菲希尔X射线测厚仪 X-RAY XUL

产品价格: ¥288000.00
产品型号:X-RAY XUL
 牌:德国菲希尔Fischer
公司名称:苏州圣光仪器有限公司
  地:江苏苏州
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产品简介

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。菲希尔X射线测厚仪又名菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪,X-RAY XUL系列分为固定平台的XUL和手动平台XUL-xym

产品详细信息

菲希尔X射线测厚仪
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射线光谱仪,主要用于无损厚度测量和成分析。
菲希尔X射线测厚仪比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了

XULX射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。


本款仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有:

              在小部件如螺钉、螺栓和螺帽上的测量

              在连接器和电气元件上的测量

              电镀液的溶液成分分析

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XUL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途,有以下两种不同版本型号,分别对应不同的样品平台:

XUL: 固定平面平台

XUL XYm: 手动X/Y平台

高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能,可以定位测量位置。

尽管仪器本身结构紧凑,但是由于XUL光谱仪配备了宽敞的测量室,从而可以测量更大体积的样品。

外罩底部留下了空隙,可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品,如大面积的印制线路板等。

通过强大而界面友好的WinFTM®软件,可以在电脑上便捷地完成整个测量过程,包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。

XUL型光谱仪是**而保护**的测量仪器,型式许可符合德国Deutsche Röntgenverordnung-RöV法令要求。

 

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM通用规范

用途

能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用于测量镀层厚度和材料分析

可测量元素范围

从氯(17)到铀(92),如使用选配的WinFTM® BASIC,可多同时测量24种元素

设计理念

台式仪器,测量门向上开启

测量方向

由下往上

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM之X射线源

X射线靶材

带铍窗口的钨靶射线管

高压

三种可调高压:30 kV40 kV50 kV

孔径(准直器)

圆形Ø 0.3mm ,(可选配置:矩形0.3 mm x 0.05 mm

测量点大小

取决于测量距离和使用的准直器的大小,视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸,小的测量点面积约为Ø 0.51 mm

测量距离,如样品为腔体时

使用保护的DCM(测量距离补偿法)功能:

测量距离为0 ~ 20 mm时,为已校准范围;

测量距离为20 ~ 27.5 mm时,为非校准范围。

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM之X射线探测

X射线接收器

比例接收器

二次滤波器

可选:钴滤波器或镍滤波器

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM样品定位

视频显微镜

高分辨率 CCD彩色摄像头,可用来观察测量位置 十字线带有刻度尺和测量点指示装置

测量区域的LED照明亮度可调节

放大倍数

38 x ~184x (光学变焦: 38x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM样品台

样品台

XUL

XUL XYm

设计

固定样品平台

手动XY平台

X/Y方向大可移动范围

-

50 x 50 mm

样品放置可用区域

250 x 280mm

样品大重量

2kg

样品高度

240mm

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM电气参数

电压,频率

AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

功率

大为 120 W (测量头重量,不包括计算机)

保护等级

IP40

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM仪器规格

外部尺寸

xx[mm]395 x 580 x 510

重量

45 kg

内部测量舱尺寸

xx[mm]360 x 380 x 240

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM环境要求

测量时温度

10°C – 40°C / 50°F – 104°F

存储或运输时温度

0°C – 50°C / 32°F – 122°F

空气相对湿度

≤ 95 %,无结露

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM计算系统

计算机

带扩展卡的Windows®个人计算机系统

软件

标准配置:Fischer WinFTM® LIGHT

可选配置:Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER

执行标准

CE合格标准

EN 61010

X射线标准

DIN ISO 3497ASTM B 568

型式许可

型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防护措施的测量仪器

 

fischer X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM订货号

FISCHERSCOPE X-RAY XUL

603-029

FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm

603-131

如有特殊要求,可与Fischer磋商,定制特殊的XUL型号。


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Fischer基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯(17)到铀(92)。

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