芯片/半导体静电放电测试仪 ESD-N08HM

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产品型号：ESD-N08HM

品牌：上海讴特电磁技术有限公司

公司名称：上海讴特电磁技术有限公司

所在地：上海松江

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产品简介

芯片/半导体静电放电测试仪可以对小型电子器件（如各类封装方式的集成电路、元器件、IC电路等）实现人体模式的静电放电过程，可用以检测这些器件抵抗静电放电的抗干扰能力。

n 型号

ESD-N08HM

n 功能作用

可以对小型电子器件（如各类封装方式的集成电路、元器件、IC电路等）实现人体模式的静电放电过程，用以检测这些器件抵抗静电放电的抗干扰能力。

n 应用领域

金属接触式芯片卡、接触式数据存储装置、大规模集成电路、半导体发光器件、RLC器件、电子芯片、功能模块等。

n 符合标准

符合ANSI/ESD STM5.1、ANSI/ESD STM5.2、EIA/JESD22-A114-B、EIA/JESD22-A115-A标准和相关产品标准等。

n 技术特点

1、触摸屏控制

2、高压过压、过流、短路保护

3、可自行判断高压输出异常

n 技术参数

输出电压	人体模式		机器模式
	0.1~8kV ±5％		100~800V ±5％
输出极性		正、负
触发模式	单次	单次放电
	计数	按设定的放电次数放电
	其它	主机自触发
放电模式		人体模式或机器模式
放电间隔		1~99s
放电次数		1~999
放电电容		100pF ±10％	200pF±10％
放电电阻		1500Ω ±10％	0Ω ±10％
放电波形		符合ANSI/ESD STM5.1、ANSI/ESD STM5.2、 EIA/JESD22-A114-B、EIA/JESD22-A115-A标准
使用环境		温度：15°C~35°C相对湿度10%~75%
系统电源		AC220±10％，50/60Hz，约300W