ORTEC数字化谱仪:DSPEC-LF, -jr2.0, -Pro & DigiDART DSPEC & DigiDART
产品简介
ORTEC数字化谱仪:DSPEC-LF, -jr2.0, -Pro & DigiDART的基本特征 一切控制与参数设置由计算机进行。 高的数据通过率:大于100kcps (DSPEC-Pro大于130kcps)。 数字化稳谱、数字化自动极零、自动**化、内置虚拟示波器和数字化门控基线恢复等功能。 用户可预置多个核素的MDA,在所有MDA满足时自动终止计数。 统一的“即插即用”式背面板接口,与DIM/Smart-1匹配,相互间具有良好的互换性与兼容性。 【ORTEC数字化谱仪:DSPEC-LF, -jr2.0, -Pro & DigiDART】
产品详细信息
【ORTEC数字化谱仪:DSPEC-LF, -jr2.0, -Pro & DigiDART】
ORTEC数字化谱仪的基本特征
l 一切控制与参数设置由计算机进行。
l 高的数据通过率:大于100kcps (DSPEC-Pro大于130kcps)。
l 数字化稳谱、数字化自动极零、自动**化、内置虚拟示波器和数字化门控基线恢复等功能。
l 用户可预置多个核素的MDA,在所有MDA满足时自动终止计数。
l 统一的“即插即用”式背面板接口,与DIM/Smart-1匹配,相互间具有良好的互换性与兼容性。
数字化自动极零(AUTO-PZ):Digital Automatic Pole Zero U.S. Patents No.: 5,872,363
自动极零技术主要基于解决(中)高计数率情况下分辨率变差的问题。该技术*早与门控基线恢复和脉冲抗堆积功能一起,集中应用于ORTEC 672主放。
自动**化功能:Optimize feature: U.S. Patents No.: 5,821,533
对于样品活度水平完全未知的情况,可以通过软件快速设置“自动**化”功能,由系统快速选定*佳的参数设置。
零死时间校正:“Zero Dead Time” (ZDT) "loss-free counting" correction: U.S.A. Patent No. 6,327,549
在谱获取中,对于中子活化分析中计数率快速衰减、或是在线测量时突然出现的尖峰信号的情况,ZDT方法采用ORTEC精密的Gedcke-Hale时钟进行零死时间校正,以实现无损失计数(Loss-free Counting)。由软件可以快速选定这一功能。经校正的谱图和未经校正的谱图可以同时保存,以作进一步分析。
ZDT在显示校正后的谱图的同时给出与之对应的不确定度。
低频抑制器(LFR):Low Frequency Rejector:Patent Pending
LFR是一项新型的数字化滤波技术,主要用来消除来自于机械制冷、电源电压波动或接地**等外部因素导致的低频噪声信号,从而使系统的分辨率得到进一步改善。
用户可根据情况选择开启或关闭此项功能。
弹道亏损校正/虚拟示波器:
在系统采用相对效率较高的HPGe探测器或遭遇中子损伤的探测器时,弹道亏损效应(Ballistic Deficit)常导致分辨率变差甚至恶化(尤其在高能端),ORTEC数字化谱仪可以通过其内置虚拟示波器轻松解决这一问题:比如对207%的HPGe探测器,将平顶时间设为0.8μs,就能使分辨率达到理想水平。当然,也可以结合软件通过自动**化功能轻松完成参数设置。
数字化门控基线恢复器:Digital Automatic Baseline Restorer: U.S. Patents No.: 5,912,825
List Mode:进行实时测量时需要开启此功能。
技术参数:
*大数据通过率: 大于100kcps;DSPEC-Pro在“增强通过率”模式下大于130kcps。
增益:粗调:由计算机选定为1,2,4,8,16,或32;细调:由计算机设定为0.45至1.00。
成形时间常数:上升时间:0.8至23 ms可调,每步0.2ms,由计算机选择;平顶:范围从0.3至2.4ms,每步0.1ms,由计算机选择。在自动**化功能下自动调整。
存储器分段(系统变换增益):由计算机选择为16,384,8192��4096,2048,1024或512道。
非线性:积分非线性:≤ ±0.025%;微分非线性:≤ ±1%
数字化稳谱器: 由计算机控制并稳定增益和零点。
温度系数:增益:<35ppm/°C;零点:<3 ppm/°C。
过载恢复:在*大增益时,能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内。
脉冲抗堆积:自动设定域值,脉冲对分辨率为500ns。
自动数字化极零调节:由计算机控制,可以手动或自动设定,远程模拟示波器方式诊断。
LLD/ULD:数字下域电平甄别器,以道为单位设置,LLD以下所有各道的计数被卡掉;数字上域电平甄别器,ULD以上所有各道的计数被卡掉。
数据存储器:16,384道不丢失数据存储器,每道容量231-1(20亿)计数。
计数率显示:在谱仪或电脑屏幕上显示计数率。
死时间校正:按Gedcke-Hale 法活时校正,精度(随峰面积而变化)<+ 3% ( 0 – 50,000 cps)。
显示/接口:240´160像素(pixel)背光液晶显示(LCD)提供谱的活显示和状态信息。USB2.0接口。
尺寸与重量:-LF, -jr2.0, -Pro :24.9D×20.3W×8.1 H cm, 1.0kg; DIM:11.2×3.13×6.5 cm, 240g
DigiDART:20×10×7.5cm;重量<900克(含电池)
工作条件:-LF, -jr2.0, -Pro:5°C~50°C(包括LCD显示)。DigiDART(-LF):-10°C~60°C
操作系统:Windows 98/2000/XP/Vista/NT
【ORTEC数字化谱仪:DSPEC-LF, -jr2.0, -Pro & DigiDART】的性能比较
数字化HPGeγ谱仪 |
DSPEC-502 |
DSPEC-LF |
DSPEC-jr 2.0 |
DSPEC-Pro |
DigiDART |
DigiDART-LF |
特性 |
双路高性能 |
普通 |
** |
动态测量 |
便携式 |
便携式 |
γ探测器 |
HPGe |
HPGe |
HPGe |
HPGe |
HPGe/NaI/LaBr |
NaI/LaBr |
自动**化 No. 5,821,533 |
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数字化自动极零 No. 5,872,363 |
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ZDT:零死时间校正 No. 6,327,549 |
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× |
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内置虚拟示波器 |
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× |
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弹道亏损校正 |
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× |
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数字化门控基线恢复 No. 5,912,825 |
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LFR:低频抑制器 Patent Pending |
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× |
√ |
× |
× |
× |
List Mode |
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× |
× |
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× |
× |
*大的数据通过率(kcps,关闭LFP) |
100 |
100 |
100 |
130 |
100 |
100 |
MCA道数 |
16384 |
16384 |
16384 |
16384 |
16384 |
2048 |
与探测器的接口 |
分散/DIM |
DIM |
DIM |
DIM |
DIM |
DIM |
与PC的接口 |
Ethernet/ USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
工作温度(℃) |
0—50 |
0—50 |
0—50 |
0—50 |
-10—60 |
-10—60 |
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