XNY-MH11光学膜层厚度测量仪 XNY-MH11
产品简介
XNY-MH11光学膜层厚度测量仪 其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间,测量精度高达1埃,测量稳定性高达0.7埃,测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。高校匀浆机 多头磁力搅拌器生产 恒温油浴锅加工 学校循环低温水槽 院校脱色摇床 生化培养箱定做 低温恒温槽厂家 产品老化试验箱 科研人工气候箱 搅拌器非标加工 培养箱定制 恒温恒湿干燥箱尺寸 高校水浴锅 实验室振荡器
产品详细信息
- XNY-MH11光学膜层厚度测量仪
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XNY-MH11光学膜层厚度测量仪
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