OTSUKA大冢-线扫描膜厚计

点击查看大图

产品价格： < 面议

产品型号：

品牌：OTSUKA大塚电子

公司名称：塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

所在地：江苏苏州

浏览次数：449 次

立即询价在线咨询

产品简介

   OTSUKA大冢-线扫描膜厚计

在线薄膜生产现场能够对薄膜的膜厚进行全幅、全长测量的装置。
通过在独自的分光干涉法中组合新开发的高精度膜厚演算处理技术，以每*短0.01秒的测定间隔，可以进行500mm宽(1台使用时)的薄膜的膜厚测定。OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计

产品详细信息

OTSUKA大冢-线扫描膜厚计

在线薄膜生产现场能够对薄膜的膜厚进行全幅、全长测量的装置。
通过在独自的分光干涉法中组合新开发的高精度膜厚演算处理技术，以每*短0.01 秒的测定间隔，可以进行500mm宽(1台使用时)的薄膜的膜厚测定。

特长OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计

通过采用线扫描方式实现没有“脱落”的全长和全长胶卷检查

硬软件一起设计原创设计

因为是膜厚测定的专门制造厂，所以能够充实的支持

高精度测量（取得砖利）

高速可以测量

强制性强

宽的样本（可以在TD方向*大10m测量）

フィルムの幅に合わせて検出器を増設可能（MAX10m）

仕様

測定項目	膜厚（FFT）
位置分解能	1mm
測定幅	500mm
波長範囲	400 ～ 920nm
1素子当たりの波長幅	約 0.6nm
膜厚測定範囲	2 ～ 250μm
測定間隔	10msec ～