超声波测厚仪 XC-TT130

超声波测厚仪/测厚仪  型号：XC-TT130

 XC-TT130超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。超声波测厚仪XC-TT130是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器，采用微电脑对数据时行分析、处理、显示，采用高度优化的测量电路，具有测量精度高、范围宽、操作简便、工作稳定可靠等特点。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。可以对各种板材和加工零件作**测量，广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。本仪器显示分辨率为0.01，可测量比XC-TT100更为精密的工件。
超声波测厚仪XC-TT100性能特点：
1、高分辨率：测量100mm以下工件时显示分辨率为：0.01mm；
2、自动校对零点：可对系统误差进行修正；
3、耦合提示、低电压提示、
4、关机方式：自动关机(无操作三分钟后)；
4、声速调节：可利用已知厚度试块测量声速；
5、数据存储：可以存储10个厚度值和5个声速值
测量范围：0.75—300mm
显示分辨率：0.01mm
声速范围：1000—9999m/s
工件表面温度：-10~60
显示：四位液晶显示
示值误差：+_(1%H+0.1)mm, H为实际厚度值
管材测量下限：￠20mmX3.0mm(5P￠10探头,钢材)
操作时间：可连续操作250小时(2个AA型碱性电池，1.5V/个)
XC-TT100测厚仪标配：手提箱、5P￠10探头1支、AA型碱性电池2节、耦合剂、随机文件