50L冷热冲击测试箱 KZ-TS-50A
产品简介
50L冷热冲击测试箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,东莞三槽式冷热冲击测试箱测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件都会用到,是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱
产品详细信息
产品简介:
50L冷热冲击测试箱也称为高低温冲击试验箱,温度冲击箱,冷热冲击箱等,东莞三槽式冷热冲击测试箱用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。三槽式冷热冲击试验箱适用的对象包括金属,塑料,橡胶,电子……等材料,可作为其产品改进的依据或参考。三槽式冷热冲击测试箱结构为高温区、低温区、测试区,测试产品放在测试区由气动阀门来完成高低温的冲击测试,被测产品为静止状态。
50L冷热冲击测试箱特点:
1,采用韩国进口TEMI7寸真彩触摸屏控制系统,可做程式定值功能,USB/R232接口(操作更简单)
2,具有断电程序记忆,复电后自动启动并接续执行程序功能。
3,程序执行时可实时显示图形曲线。
4,具有自动调节冷冻能力功能。
5,具有预约启动及关机功能。
6,按键及画面锁定(LOCK)功能。
7,控制器界面人性化风格设计,操作更方便,运行更可靠。
执行满足标准
GJB 150.5A-2009 温度冲击试验
GB/T 2424.13-2002 温度冲击试验
GJB 360B-2009 温度冲击试验
GB/T 2423.2-2008 高温试验方法
GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-2-1-2007 低温试验方法
GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件规格
详细技术规格选型表(可按您的要求非标定制)
型 号 |
KZ-TS-50 (A-C) |
KZ-TS-80 (A-C) |
KZ-TS-100 (A-C) |
KZ-TS-150 (A-C) |
内部尺寸W×H×D(cm) |
36×35×40 |
40×50×40 |
50×40×50 |
60×50×50 |
外部尺寸W×H×D(cm) |
138*175*160 |
152×185×171 |
155×200×220 |
198×210×225 |
温度范围(测试区) |
A:-40℃; B:-50℃; C:-60℃);(高温区 High temperature zone :+60℃~+150℃;低温区 Low temperature zone :-10℃~-60℃;) |
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升温时间(蓄热区) |
RT~180℃约需35min |
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降温时间(蓄冷区) |
RT~-65℃约需85min |
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温度回复时间/转换时间 |
≤5min内 / ≤l0秒内 |
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温度控制精度/分布精度 |
±0.5℃/±2.0℃ |
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保温材质 |
耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料 |
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系统 |
P.I.D + S.S.R + 微电脑平衡调温控制系统 |
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冷却系统 |
法国泰康全密闭压缩机(或德国比泽尔半封闭压缩机)二元式制冷 |
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保护装置 |
无熔丝开关、压缩机高低压保护开关,冷媒高压保护开关、故障警告系统,电子警报器 |
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配 件 |
观视窗(特殊选购型)、上下可调隔层两片、通电测试孔、脚轮、水平支架 |
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重量(大约) |
550Kg |
900Kg |
1000Kg |
1200Kg |
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