MarSurfXC20轮廓测量仪

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产品型号：

品牌：其它品牌

公司名称：武汉上材科技有限公司

所在地：湖北武汉

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产品简介

轮廓测量的国际基准
MarSurf XC 20 被公认为轮廓评估的**产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过上等的技术发展为上等质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供**的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。
 可以显示用户提示
 交互控制元素支持评估和自动例行程序
 使用双探针测头测量上下轮廓；也可对两个轮廓进行相对评估
 剖面图像，可评估各剖面的不同参数
 可对孔或陡峭对象等障碍进行分段测量
 支持导入和导出 dxf 文件以对比设定点/实际值
 PCV 200 驱动装置采用砖利的测杆安装方式，无需工具即可完成可重复性测杆更换
 砖利测头系统，提高测量站灵活性
 手动可变扫描力，同样提高灵活性
 使用直线和圆弧合成标称轮廓
 方便比较标称和实际轮廓 可通

产品详细信息

技术数据

接触速度（Z 方向）	0.1 至 1 mm/s
测杆长度	175 mm, 350 mm
测量速度（文本）	0.2 mm/s 至 4 mm/s
针尖半径	25 µm
扫描长度末尾（X 方向）	200 mm
分辨率	Z 方向，相对探针针头：0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆）在 Z 方向，相对于测量系统：0.04 µm
扫描长度开始（X 方向）	0.2 mm
取样角	在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77°
定位速度（文本）	X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s
导块偏差	< 1 µm（200 mm 以上）
测量范围 mm	（Z 方向）50 mm
扫描长度（文本）	0.2 mm 至 200 mm
测量力 (N)	1 mN 至 120 mN，以下和以上（可在 MarSurf XC 20 中设置）