W55台式高精度粗糙度轮廓测量仪 W55
产品简介
WINDOWERS操作系统，彩色液晶屏显示，可测量粗糙度参数，波纹度参数，原始轮廓参数，珩磨网纹粗糙度参数，日本标准参数，法国标准参数。 主要技术参数： 测量精度 ： 2% 垂直量程 ： +/-800微米 花岗岩平台 ： 780*500/630*500 立柱行程 ： 400MM 水平测量长度 ： 60MM/120MM 水平分辨率 ： 0.01微米 *小分辨率 ： 0.001微米
产品详细信息
W55台式高精度粗糙度轮廓测量仪
WINDOWERS操作系统，彩色液晶屏显示，可测量粗糙度参数，波纹度参数，原始轮廓参数，珩磨网纹粗糙度参数，日本标准参数，法国标准参数。
主要技术参数：
| 测量精度 ： | 2% |
| 垂直量程 ： | +/-800微米 |
| 花岗岩平台 ： | 780*500/630*500 |
| 立柱行程 ： | 400MM |
| 水平测量长度 ： | 60MM/120MM |
| 水平分辨率 ： | 0.01微米 |
| *小分辨率 ： | 0.001微米 |
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