显微熔点仪 X-4
产品简介
技术参数:熔点测量范围:室温至320℃ 测量重复性:≤ 200℃: ±1℃,>200℃: ±2℃ 光学放大倍数:目镜10X,物镜4X 产品特点:测定物质的熔点。用于**、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之熔点测定,显微镜观察。既可用毛细管示测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定
产品详细信息
技术参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:≤ 200℃: ±1℃,>200℃: ±2℃
光学放大倍数:目镜10X,物镜4X
产品特点:
测定物质的熔点。用于**、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之熔点测定,显微镜观察。既可用毛细管示测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:≤ 200℃: ±1℃,>200℃: ±2℃
光学放大倍数:目镜10X,物镜4X
产品特点:
测定物质的熔点。用于**、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之熔点测定,显微镜观察。既可用毛细管示测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定