支柱绝缘子及瓷套专用探伤仪 HDU65
产品简介
支柱绝缘子及瓷套专用探伤仪HDU65是我公司自主开发的新一代支柱绝缘子超声波探伤仪产品,该产品可以应用于支柱绝缘子,瓷套的缺陷检测。配置相应的探头,可以完成绝缘子法兰内部缺陷,绝缘子内部缺陷,瓷套内部缺陷的定位,定量,评定检测任务。
产品详细信息
支柱绝缘子及瓷套专用探伤仪HDU65
支柱绝缘子及瓷套专用探伤仪HDU65是我公司采用德国先进的探伤仪技术自主开发的新一代支柱绝缘子及瓷套专用探伤仪。具有质量可靠、使用耐久和操作简便等特点,该产品应用于支柱绝缘子,瓷套的缺陷检测.配置相应的探头,可以完成绝缘子法兰内部缺陷,绝缘子内部缺陷,瓷套内部缺陷的定位,定量,评定检测任务.机器内设置专用检测探伤通道,方便操作者使用.操作者只需要接上相应探头,将相应通道内的参数调出即可工作.本仪器适用于发电厂、变电站(所)、换流站、串补站户内和户外外径≥Φ80mm 高压支柱瓷绝缘子及外径≥Φ150mm 的断路器、CT、PT(含CVT)、避雷器等设备瓷质外套的超声波检测。
功能特点:
专用的支柱瓷绝缘子及瓷套检测设置
按照国家支柱瓷绝缘子及瓷套标准设计了全部探伤参数及曲线,使用者只需通过调用这些设置即可轻松的进行检测工作,方便实用。
仪器自动完成声速测定,DAC曲线声速补偿功能,简化使用者的工作,使探伤检测变得更简单。
简便焊缝检测工具
曲率修正计算功能 带有曲度修正的缺陷几何位置计算功能,能够自动地计算缺陷深度、缺陷表面距离和缺陷声程。
实时(单次发射)TTL 输出 可以适应各种系统应用,可以实现声、光和电实时报警和输出。
实时(单次发射)TTL 输出 可以适应各种系统应用,可以实现声、光和电实时报警和输出。
四种任意选择的波形保持模式 全部、标准、比较或包络模式,获得*佳的波形评估和比较。
彩色波形对比 以不同颜色显示事先存储或冻结的参考回波,用于与的实时A扫描进行比较,轻松解读检测结果。
简便缺陷定量工具
40 dB动态多曲线DAC/TCG 选项 可修正材料衰减和波形发散引起的距离/振幅变化,可记录多达16 个数据点,每微秒*大的曲线斜度为12 dB 。符合或超过了TCG 的工业要求。
文件存储与操作
可以存储、预览和任意编辑512个用户自己命名的文件,文件分类清晰、简单,分参数设置文件、A扫描波形数据文件。
界面友好的PC软件 PC上位机软件可以实现数据交换,简便的传输、存储,不需要复杂操作,自动生成检测分析报告。
用户喜爱的功能
l 使用快速旋钮使参数调整更加简单方便。
l 自动校准功能可快速、轻松地进行校准。
l 峰值记忆功能,可随时记录闸门内出现的*高波,免除了重复寻找*高波的困扰。
l 用户可轻松选择各种常用材料速率。
l 15Hz到2KHz重复频率。
l 2个独立的不同颜色的闸门,在探伤和厚度测量中,监控回波振幅和声程。
l 250KHz到25MHz信号探测能力,3个可选频带,对探头进行匹配,获得*佳性能。
l 射频显示模式可以有效区分回波和噪声,提高信号评估和不同材料的胶接检测。
l 4种可选的衰减设置(50、75、150、500Ω)能够实现*佳的探头性能。
l 1mm到5000mm的探测范围(钢材)覆盖了由薄型材料到厚的声波衰减材料。
l 激活增益参考功能,可评估后续回波增益值和A闸门内的*大回波振幅(参考回波)。
主要技术性能:
性能指标 | 垂直线性误差 | ≤3% |
水平线性误差 | ≤0.2% | |
灵敏度余量 | >60dB (200Φ2平底孔) | |
分辨力 | >30dB | |
动态范围 | ≥40dB | |
电噪声电平 | <20% | |
探测范围 | 探测范围 | 1 ~ 5000mm (钢纵波)。连续可调,*小步进值 0.1mm。 |
材料声速 | 1000 ~ 9999m/s。连续可调。内置7个常用的材料声速值。 | |
显示延时 | -5 ~ 3400μs。 | |
探头延时 | 0 ~ 99.999μs。 | |
发射脉冲 | 发射脉冲类型 | 尖脉冲。 |
脉冲重复频率 | 25Hz ~ 1500Hz,自动调节。 | |
发射强度 | 强、中、弱。 | |
工作方式 | 单、双、透射。 | |
阻尼 | 50、75、150、500Ω。 | |
接收放大 | 采样频率 | 基于硬件的实时采样频率,100MHz。 |
增益 | 0.0 ~ 110.0dB。步进值:0.2、0.5、1.0、2.0、6.0dB、12.0dB。 0.0dB档可锁定增益调节功能。 可自定义一挡步进值(0~24dB,分辩力0.1dB)。 | |
频带 | 0.2 ~ 25MHz,包括3个宽带。 | |
闸门 | 两个独立的闸门,覆盖整个检测范围。可独立测量,也可关联测量。 | |
测量模式 | 闸门内脉冲波的前沿、峰值。 | |
检波方式 | 全波、负半波、正半波、射频。 | |
抑制 | 0 ~ 90% | |
单位 | 公制(mm)、英制(inch) | |
报警 | 报警方式 | 硬件驱动实时报警信号,可选: 进波报警、失波报警、*小厚度报警、*大厚度报警。 |
报警信号 | · 3路TTL、声光:蜂鸣器(声)、发光二极管(光)报警; · 每路报警信号均可单独配置。 · 2种报警处理方式可选: 即时:报警状态随报警条件实时产生和自动**; 锁定:报警状态一旦产生只有通过菜单操作才能被**。 | |
显示 | 显示屏 | · 高清晰度TFT彩色液晶显示屏; · 高亮度,且亮度可调。262144种颜色。 |
显示区点阵数 | · 640×480超大点阵。脉冲波形显示区点阵数:400×440。 · 工件横断面扫描结果显示区点阵数:400×400。 | |
屏幕刷新率 | 高于60Hz | |
颜色 | · 4种固定颜色主题,适用于不同的光线要求; · 2种自定义颜色主题,满足各种用户使用习惯; | |
脉冲表现形式 | 彩色。可选:空心、实心。射频显示。 | |
控制与接口 | 键盘 | · 薄膜面板;防水、防尘、防油污、耐酸碱、密封性强; · 微微凸起的按键,提供良好的触感; · 根据统计学原理设计的薄膜按键位置(检测大量的工件,统计各个参数调节的次数,将*常用的按键安排在左手大拇指控制下); · 按键表面文字:标准符号; · 快捷键调节,使得调节非常方便。 |
菜单 | · 中文菜单;常用参数项,单键直接控制(增益、△dB等); · 其他项,分门别类的体系设计。 | |
英文输入 | · 键盘输入:单手控制,操作方式类似于手机。 | |
探头接口 | · 两个位于仪器面板BNC Q9探头插座,可应客户要求改为Lemo 00#。 | |
RS232接口 | · RS232串行接口;位于仪器侧板上;用于连接仪器与计算机。 | |
直流电源输入端口 | · 微型直流电源接口;位于仪器侧板上;用于连接仪器与电源适配器,实现仪器在220V交流供电方式下工作。可以边充电边工作。 | |
数据的存储 | 参数文件 (快捷设置通道) | · *多512个快捷通道;包含所有的仪器设置项;可存储、调用、通讯、浏览; · 配合快速地更换探头,免去繁琐的仪器调节过程。 · 可编辑参数设置的文本项:文件名称、文件头,(标题或说明文字,如:工件名称、探伤人员等。)英文输入。 |
波形文件 (探伤报告) | · *多可存储512套探伤报告; · 可存储、调用、预览、通讯、打印; · 可编辑探伤报告的文本项:文件名称、文件头,(标题或说明文字,如:工件名称、探伤人员等。)英文输入。 | |
参考增益 | · 打开参考增益可锁定仪器当前的灵敏度,使得增益调节时DAC曲线在屏幕上的位置保持不变; · 打开参考增益时可锁定A闸门测得的参考回波,实测回波可与该参考回波比较并计算出波幅高度百分比及dB差。 | |
辅助功能项 | 冻结 | · 4种方式冻结A扫描波形: 全部:冻结当前的A扫描波形; 峰值保持:冻结后屏幕每个象素线上的A扫描波形都会被后来出现的更高的A扫描波形所取代,此功能用于标定、检测过程中找到人工伤或缺陷的*高波; 峰值比较:冻结当前的A扫描波形,并作为一幅对比图形显示在屏幕上; 峰值包络:显示当前A扫描波形,同时显示一幅峰值保持曲线; · 单键直接控制。 |
展宽 | · 放大闸门的宽度到整个波形显示区,用于观察波形的细节; · 可分别对A、B两个闸门进行展宽操作。 | |
存储快捷键 | · 面板上的常用按键之一 · 可选择存储的类型:参数、探伤报告、厚度值数据库 · 单键控制 | |
自动增益 | · 新颖的波形幅度调节方式,自动计算并调节仪器增益使得A闸门内回波高度达到预设的水平; · 可调范围:10% ~ 90%(与屏幕高度比),操作快捷方便。 | |
校验(波形对��) | · 可将冻结的波形置于显示屏背景上 · 可将存储后的波形回放后置于显示屏背景上 · 将背景上的波形,同实时的波形对比(校验功能) | |
探头校准 | · 可自动校准材料声速和探头的零值; · 可自动校准斜探头的K值(折射角)和前沿值。 | |
测值显示 | · 4个测值显示区,1个放大显示区,可选择显示内容; · 20种测量结果: SA:A闸门测定的反射体到试块表面(探头接触面)的声程距离; SB:B闸门测定的反射体到试块表面(探头接触面)的声程距离; SBA:从A闸门测定的反射体到B闸门测定的反射体的声程距离; DA:A闸门测定的反射体到试块表面(探头接触面)的深度; DB:B闸门测定的反射体到试块表面(探头接触面)的深度; DBA:从A闸门测定的反射体到B闸门测定的反射体的深度; PA:A闸门测定的反射体到探头入射点的水平距离; PB:B闸门测定的反射体到探头入射点的水平距离; PBA:从A闸门测定的反射体到B闸门测定的反射体的水平距离; RA:A闸门测定的反射体到探头入射点的水平距离减去输入的X值; RB:B闸门测定的反射体到探头入射点的水平距离减去输入的X值; LA:A闸门测定的反射体回波路径; LB:B闸门测定的反射体回波路径; LBA:从A闸门测定的反射体到B闸门测定的反射体的回波路径; A%A:A闸门测定的反射体回波波幅与全屏高度的百分比; A%B:B闸门测定的反射体回波波幅与全屏高度的百分比; dBtA:A闸门测定的反射体回波波幅与A闸门高度的dB差; dBtB:B闸门测定的反射体回波波幅与B闸门高度的dB差; dBrA:A闸门测定的反射体回波波幅与参考回波波幅的dB差; dBrB:B闸门测定的反射体回波波幅与参考回波波幅的dB差; | |
缺陷的定位 | · 显示缺陷的水平、深度、声程、波次(直射波、一次反射波等); · 缺陷的定位方式可选前沿、或峰值。 | |
缺陷的定量 | · 普通检测模式,显示波形的幅度(%) | |
抑制的特点 | · 抑制连续可调,抑制的打开,不影响仪器的垂直线性等指标 | |
与探头的匹配 | · 仪器提供四档匹配阻尼,配合国内外多种多样的探头以获得*佳的灵敏度、分辨力,且防止接收波形的失真。 | |
曲面修正 | · 适用于曲面的检测,根据曲面的直径自动修正缺陷位置的检测结果。 | |
DAC曲线 | · 距离波幅曲线,*多可记录16个点,可按任意顺序标定; · 3条附加的偏置曲线,可适用于各种探伤标准; · 具有TCG功能; · 可对工件探伤表面的耦合情况进行补偿; · 根据dB、探测范围等的改变而移动; · 可建立、删除,并可随参数进行存储、调用。 | |
软件的可拓展性 | 可根据不同用户、不同行业的要求,加入特定的探伤工艺。 | |
其他项 | 硬件采样 | · 高速(100MHz)、高精度(10位AD); · 超高采样速度使得缺陷定位精度更高,回波细节清晰准确; · 高精度AD使得缺陷定量更加准确。 |
电源 | 两种供电方式: · 大容量6600mAh锂电池,无记忆效应、连续工作6~7小时; · 220V交流电(配电源适配器) 。 | |
充电器(电源适配器) | · 可一边对电池充电、同时供电给仪器工作,从而为时间、任务上的安排提供了极大的便利条件。 | |
环境温度 | · -10℃~ 70℃ | |
外型尺寸 | 220mm×218mm×51mm(含支架),220mm×180mm×51mm(不含支架) | |
重量 | 1.6kg(含电池) |