薄膜摩擦系数测定仪 MX-2W型
产品简介
MX-2W型摩擦系数测定仪用于测定塑料薄膜和薄片在自身或其它材料表面滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数.
产品详细信息
MX-2W型摩擦系数测定仪用于测定塑料薄膜和薄片在自身或其它材料表面滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数,广泛地应用于塑料薄膜和薄片的生产厂、包装、制药等行业,本仪器符合GB10006-88和ISO8295-1994、ASTM D1894标准的要求。
本仪器采用微机控制技术,WINDOWS中文界面,可以进行批量试验数据的存储,曲线的遍历以及结果的输出;该机型自动测控试验力,实时绘制试验曲线,试验过程中自动求出静摩擦力和动摩擦力,并计算出静摩擦系数和动摩擦系数以及测试报告的打印输出,是目前国产*先进的机型。
主要技术参数:
滑块:面积40cm2(63mm×63mm)
质量200g±2g
相对移动速度:100±10mm/min
摩擦力测量: 范围:0~10N
精度:±1%
分辨率:0.001N
本仪器采用微机控制技术,WINDOWS中文界面,可以进行批量试验数据的存储,曲线的遍历以及结果的输出;该机型自动测控试验力,实时绘制试验曲线,试验过程中自动求出静摩擦力和动摩擦力,并计算出静摩擦系数和动摩擦系数以及测试报告的打印输出,是目前国产*先进的机型。
主要技术参数:
滑块:面积40cm2(63mm×63mm)
质量200g±2g
相对移动速度:100±10mm/min
摩擦力测量: 范围:0~10N
精度:±1%
分辨率:0.001N