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CH－1－S型薄膜测厚仪 CH－1－S型

CH－1－S型薄膜测厚仪 CH－1－S型
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产品价格： < 面议
产品型号：CH－1－S型
品 牌：其它品牌
公司名称：上海玺欣精密仪器有限公司
所 在 地：上海杨浦
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产品简介

CH－1－S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

产品详细信息

CH－1－S型薄膜测厚仪
一、 概述
CH－1－S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

二、主要参数
1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm
2. 上测头曲率半径：15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
4. 测量精度：100vm以内＜1vm
             100-250vm＜2vm
             250vm＜3vm

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上海玺欣精密仪器有限公司
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