X荧光能量色散光谱分析仪

X荧光能量色散光谱分析仪.1探测系统

1、探测器

制造商：美国Amptek公司生产

类型：电制冷Si-PIN探测器

(采用PIN结构的高性能电致冷半导体探测器)

型号：XR-100CR

制造商：美国Amptek公司生产

Be窗厚度：1mil(0.0254mm)

*佳分辨率：149±5eV

系统峰背比：≥ 5000/1

能量响应范围：1keV~40keV

推荐计数率：5000cps（DP4 Peaking Time=25.6us）

2、信号处理系统 DP4（与探测器高度集成）

放大器增益自动调整；

脉冲成型时间自动调整；

MCA通道数*高可达8K；

每一通道总计数可达24位（16.7M）

2.2高压电源

图   片

生 产 商：美国Spellman公司生产

型号：MNX50P50

输入电压: DC +24V±10%

输入电流：4.0A（*大）

输出电压: 0 -50Kv @ 1mA

*大功率：50W

电压调整率：0.01% （从空载到满载）

电流调整率：0.01% （从空载到满载）

纹波系数：0.1% （P-P值）

2.3 X光管

图   片

制 造 商：辽宁丹东科维

电   压: 0~50 kV

*大电流: 1.0 mA

*大功率: 50 W

灯丝电压: 2.0V @ 50 kV/1mA

灯丝电流: 1.7 A

射线取出角：12°

靶   材：Mo

Be窗厚度：0.5mm

2.4微动平台与高分辨率CCD

载物测试平台，配有微调装置，可方便的实现检测物的定位与检测区域的调整。

120万像素的CCD摄像头，可有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测报告的组成部分。

2.5散热系统

高效三维散热系统，大幅度提供仪器的可靠性、稳定性

2.6防辐射**系统

三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），开盖测试自动警示系统。

2.7仪器操作软件功能  

1、可以对RoHS指令中的五种有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）卤数（Br，Cl）进行精准测试；

2、分析方法：综合应用经验系数法、基本参数法；

3、开放性工作曲线：用户可很方便的建立针对性的风险物料专用曲线，提高工作曲线

与风险物料的对应性，从而**提高检测精度，提高允收判定的准确性。

4、分析报告：多种语言格式(简体中文 繁体中文 英文等)及文档格式报告，如Excel、

PDF等，预设标准模板，用户还可自定义模板格式，所有文档可自由打印和保存；

5、数据自动保存：所有样品测试后的数据均会自动保存，测试结果具有可追溯性；可以

很方便的进行历史谱图与现测谱图的对比，从而发现来料的变化趋势，建立更高的风险

防范能力。

6、稳定性自检功能：可即时对仪器当前稳定性进行自动测试；

7、软件**联锁，对误操作等造成的辐射泄露实现即时的X射线切断处理。保证操作人

员意外辐射**。

8、操作界面多语种:英语、简体中文、繁体中文等。

2.8升级与选配

1、用户另行购置镀层测厚软件，可进行镀层测试；

2、用户另行购置六价铬测试仪可实现六价铬定量检测；

2.9仪器技术参数

1、 仪器尺寸：640(W)x474(D)x412 (H)mm       

2、 样品腔尺寸：小样品腔：300*300*100mm；    大样品腔：无限制，小于30公斤

3、 重量：约48Kg

4、 工作环境温度：温度15—30℃

5、 工作环境相对湿度：≤85%（不结露）

6、 可分析元素范围 ： Cl-U

7、 *低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm Cl≤60ppm

8、 测量时间 ：120-200s ( 系统自动调整 )

9、 *佳分辨率：149±5eV

10、 输入电源：AC 220V ± 10%，50Hz

11、 额定功率 ：350W

2.10光路优化系统

采用新型光路设计，既能保证Cl检测所必需的*短光程，同时又可保证CCD拍摄样品图像的完整。

3.1计算机

生 产 商：方正**商务电脑P4 3.0GHz/512M/80G/17寸液晶

打 印 机：彩色喷墨打印机

3.2标准物质配置

图片

欧盟标准ERM^®-EC680K  一个       标配

欧盟标准ERM^®-EC681K　一个       标配

银校准样品         　一个       标配