高低温测试箱 XK-CT80Z

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产品型号:XK-CT80Z
 牌:其它品牌
公司名称:深圳市硒控检测设备有限公司
  地:广东宝安
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产品简介

高低温测试箱,高低温试验箱主要技术参数:
    1.温度波动度:±0.5℃
   2.温度均匀度:≤2℃
   3. 升温速率:3~5℃/min
   4.降温速率:0.7~1℃/min


产品详细信息

 产品名称:高低温试验箱(高低温测试箱)
 产品型号:XK-CT80Z
 高低温试验箱简介:

1.体结构特点

造型美观大方,并采用无反作用把手,操作简便。

箱体内胆采用进口**不锈钢(SUS304)镜面板,箱体外胆采用A3钢板喷塑,增加了外观质感和洁净度。

大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。

箱体左侧配直径50mm的测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用。

2.控制器

温度控制采用全进口触摸按键式仪表,操作设定简单。

资料及试验条件输入后,控制器具有锁定功能,避免人为触摸而改变温度值。

具有P.I.D自动演算的功能,可将温度变化条件立即修正,使温度控制更为**稳定。

可选配打印机。

3.高低温测试箱,高低温试验箱冷冻及风路循环系统

制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。

冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。

采用多翼式送风机强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温度分布均匀。

风路循环出风回风设计,风压、风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。

升温、降温、系统完全独立可提高效率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率。

 

Z系列高低温箱温度范围:-40℃~100℃(150℃)

型号           工作室尺寸(宽×高×深)(mm)

XK-CT64Z           400×400×400

XK-CT100Z          400×500×500

XK-CT150Z          500×600×500

XK-CT225Z          500×750×600

XK-CT408Z          600×850×800

XK-CT1000Z         1000×1000×1000

主要技术参数:

    1.温度波动度:±0.5℃
    2.温度均匀度:≤2℃
    3. 升温速率:3~5℃/min
    4.降温速率:0.7~1℃/min

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