Thick 800 X荧光光谱仪 Thick800
产品简介
Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定,它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计,而是采用上照式,通过三维的移动和激光定位,实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和首饰加工行业;银行、首饰销售和检测机构;电镀行业。
产品详细信息
元素分析范围:从K到U
一次性可同时分析多层镀层
分析厚度检测出限*高达0.01um
同时可分析多达5层以上镀层
相互独立的基体效应校正模型,*先进厚度分析方法
多次测量重复性*高可达0.01um
长期工作稳定性小于0.1um(5um左右单镀层样品)
温度适应范围:15℃~30℃
输出电压220±5V/50HZ(建议配置交流净化稳压电源)
配置
开放式样品腔
二维移动样品平台
探测器和X光管上下移动可实现三维移动
双激光定位装置
准直器自动切换装置
玻璃屏蔽罩
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管
计算机及喷墨打印机
样品腔尺寸:517mm×352mm×150mm
外型尺寸:648mm×490mm×544mm
2.1 ● 工作温度:15
3、仪器硬件部分主要配置:
3.1 正比计数盒探测器
3.2 ● X 光管 ●高、低压电源 ● MCA多道分析器
3.3 ●开放式样品腔●二维移动样品平台●探测器和x光管上下移动可实现三维移动
3.4 ●双激光定位装置●准直器自动切换装置●玻璃屏蔽罩●信号检测电子电路
3.5 计算机及喷墨式打印机
4、仪器软件配置: