X射线晶体分析仪JF-2000 JF-2000
产品简介
X射线晶体分析仪主要用于研究物质内部微观结构。如:单晶定向、检验缺陷、物质定性、测定点阵参数、测定残余应力等。
产品详细信息
X射线晶体分析仪JF-2000技术参数:
1. 管电压:10~60KV由单片机自动控制(1KV/step)
2.管电流:5~80mA由单片机自动控制(1mA/step)
3.管电压、管电流稳定度≤0.3‰
4.额定输出功率:3KW
5.有无压、无流、过压、过流、过功率、无水、X光管超温保护
X射线晶体分析仪特点:
1.冷却装置:自带制冷系统,无需外接水循环,并自动控制水温及显示X光管温度。
2.外射线计量不大于2.5μSv/h
3.X光管:额定功率2KW(铜靶)
4.定时:单片机自动定时,定时时间任意选择