膜厚仪 Surfix F
产品简介
德国PHYNIX公司Surfix F铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计(新外观)特点: 1.德国PHYNIX公司制造。 2.碳化钨* 耐磨测头.特快反应速度。 3.同屏显示统计数据。 4.可存储前200测值。 5.可测铁基体上涂镀层和有色金属。 6.基体上涂层,量程1500μm.精度±1μm+1%读数。 7.分辨率0.1μm.读数背景光。 8.有红外可接PC及打印机
产品详细信息
![膜厚仪](http://y1.yzimgs.com/ComFolder/313339/PHYNIX%20Surfix%E5%88%86%E4%BD%93%E5%BC%8F%E7%B3%BB%E5%88%97%E6%B5%8B%E5%8E%9A%E4%BB%AA.jpg)
![膜厚仪](http://y1.yzimgs.com/ComFolder/313339/Surfix%20FN.jpg)
特点:
1.德国PHYNIX公司制造
2.碳化钨* 耐磨测头.特快反应速度
3.同屏显示统计数据
4.可存储前200测值
5.可测铁基体上涂镀层和有色金属
6.基体上涂层,量程1500μm.精度±1μm+1%读数
7.分辨率0.1μm.读数背景光
8.有红外可接PC及打印机
技术参数: | |
测量范围 | 0-1500µm,0 - 60mils |
误差 | ±(1µm+1%读数) |
分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% |
显示 | 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示 |
基体*
小面积 | 5mmX5mm |
基体*
小曲率 | 凸面:1.5mm 凹面:5mm |
基体*
小厚度 | F型:0.2mm ,N型: 50µm |
校准 | 厂家校准,零校准,校准箔校准 |
数据统计(**统计型) | 读数个数(*
多9999个),平均值,标准偏差,*
大值和*
小值 |
数据存储(**统计型) | * 多200个测量数值,可单* 调出 |
数据值(**统计型) | 上下限可调,声音报警 |
数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃ (可选配150℃) |
电源 | 两节1.5伏五号碱性电池 |
仪器尺寸 | 137x66x23mm |
符合标准 | DIN,ISO,ASTM,BS |
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