MSP100 分光光度计即薄膜测厚分析系统 MSP100

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产品型号:MSP100
 牌: Angstrom Sun
公司名称:北京燕���电子有限公司
  地:北京朝阳
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产品简介

•容易操作的软件与窗口   •先进深紫外光学和坚固耐用的设计*高正常运行时间和*佳的系统性能  •探测器阵列为基础的制度,以确保快速测量  •负担得起的,便携式和小型台面设计  •测量薄膜厚度和折射率高达5微米大小的地区多层次  •允许收购反射,传输和以毫秒为单位的吸收光谱  •能力将用于实时光谱,厚度,折射率监测  •系统配备了光学常数的综合数据库和图书馆  •先进的软件允许用户使用每个电影或者

产品详细信息

波长范围: 250到1000纳米
波长分辨率: 1nm
光斑大小:100μm ( 4倍) , 40μm ( 10倍) ,
30μm ( 15x ) , 8μm ( 50x )
基板尺寸:高达20毫米厚
可测量厚度范围: 2nm至25微米
测量时间:*低2毫秒
精度:优于0.5 %
重复性 : <2 Ǻ

System Configuration:
· Model: MSP100RTM

· Detector: CCD Array with 2048 pixels

· Light Source: High power DUV-Visible

· Automatic Stage: Black Anodized Aluminum Alloy with 5”x3” net travel distance and 1µm resolution, program controlled

· Motorized Z focus drive and X-Y-Z joystick

· Long Working Distance Objectives: 4x, 10x, 15x(DUV), 50x

· Communication: USB

· Measurement Type: Reflection/Transmission spectra, Film thickness/refractive index and feature dimensions

· Computer: Intel Core 2 Duo Processor with 200GB Hard drive and DVD+RW Burner plus 19” LCD Monitor

· Power: 110– 240 VAC /50-60Hz, 3 A

· Dimension: 16’x16’x18’ (Table top setup)

· Weight: 120 lbs total

· Warranty: One year labor and parts

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