平面平晶45mm 45mm
产品简介
平面平晶45mm用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的工具。使用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测
产品详细信息
平面平晶45mm具有两个（或一个）光学测量平面的正圆柱形或长方形的量规。光学测量平面是表面粗糙度数值和平面度误差都极小的玻璃平面，它能够产生光波干涉条纹（见激光测长技术）。
平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差，为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的，用于测量两高光洁表面的平行度误差，例如千分尺两测量面的平行度误差.平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。
平面平晶45mm用途：
平面平晶是用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的工具。使用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测
平面平晶45mm标准规格尺寸： 单位:mm
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规格
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30
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45
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60
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80
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100
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150
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200
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250
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300
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直径
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Φ30
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Φ45
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Φ60
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Φ80
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Φ100
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Φ150
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Φ200
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Φ250
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Φ300
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高度
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15
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15
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20
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20
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25
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30
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40
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45
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45
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特殊规格尺寸平面平晶，环形平面平晶，方形平面平晶，方形平面平晶可定做
平面平晶技术参数：
平面平晶制成精度：1级
平面平晶工作面的平面度编差允许值为
平面平晶工作面的平面度编差允许值为
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直径
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30-100MM
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1级平晶
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0.03 um
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直径
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100-300MM
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1级平晶
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0.05 um
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更大尺寸平面度偏差允许值根据国家标准。
平面平晶工作面的局部偏差允许值为0.03 um。
平面平晶测量工作应在20℃±3℃条件下保持数小时后进行。
注：Φ200MM以上标准平面平晶、环形平面平晶需定做
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