STJ X-ray谱仪（超导隧道结X射线谱仪）

STJ X-ray是专用于软X射线束探测的无液氦超导隧道结X射线谱仪，具有高能量分辨和高计数率等优点。

概述：

超导隧道结（STJ）X-射线谱仪由美国STAR Cryoelectronics 公司专门为同步辐射研究领域开发的一款高性能低温探测系统。优化设计的STJ探测器既适合作为紫外-软X射线波段范围（50eV-3keV）荧光产率吸收谱（PFY-XAS）用探测器，也适合作为同步辐射装置的高光子通量探测器。在525eV处的能量分辨率（峰半高宽）优于10eV，每像素每秒计数超过1万次。STJ探测器比传统固态探测器（例如HPGe）和硅漂移探测器的分辨率高10倍，并保持高量子效率和高计数率的特点，与其它低温探测器相比，STJ探测器使用更简单也更稳定，非常适合作为高光子通量同步加速器装置的X射线探测器来使用。

性能参数

与传统固态探测器相比，STJ探测器能量分辨率优于10eV，能够分辨出大多数传统固体探测器无法辨识的近邻峰。利用STJ探测器可清晰地分辨出Mn和Fe 的L峰位于F的k峰（677eV）的两侧，能够将不同元素的荧光产率吸收谱从弱背景中提取出来。STJ探测器也可将V、Cr、Ti的 L峰从O的K峰位分辨出来，W和Ta的M峰从Si的K峰位中分辨出来。

在每像素每秒计数率在2,000次以内时，STJ保持高能量分辨率地特点，即使计数率超过10,000次，STJ的能量分辨率仍保持在20eV左右。

通过32-Pixel STJ探测器采集的多元素样品的单像素谱

    集成STJ探测器的DRC-100 ADR恒温器全部操作由计算机程控。与其它类型低温探测器不同，STJ探测器的工作温度只需要低于250mK阀值温度即可。带微型snout的ADR恒温器在200mK的工作温度下可保持60小时，再生循环过程仅需1.5小时。三层红外滤光片能够消除室温辐射芯片，且1keV以上X射线透射率超过90%。也可根据需求提供允许低能射线通过滤光片，不过ADR恒温器的低温保持时间将会缩短。

 通过标准三层IR红外滤光片的X射线透过率与能量关系

配置

    根据实验的不同，提供标准型和微型两种STJ X-ray探测器系统。标准型STJ X-ray探测器系统带一个42cm长72mm粗的冷指，冷指末端端面上安装一个112像素芯片，冷指可伸入分析室使得探测器距离样品仅1cm，每个像素的有效探测面积为0.2mm*0.2mm，总有效探测元面积为4.48mm²。