纳米颗粒粒度分析仪 N4 PLUS

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产品型号:N4 PLUS
 牌:Metrohm万通
公司名称:珠海市锦河贸易发展有限公司仪器仪表事业部
  地���广东珠海
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产品简介

N4 PLUS纳米颗粒粒度分析仪•  是同类产品中**采用六个角度(在0-900C角度范围)检测的仪器 •  独有的指纹分析给出六角度的Unimodal分析图,快速判别样品类型

产品详细信息

N4 PLUS纳米颗粒粒度分析仪
主要特点
N4 Plus是采用激光法测超细颗粒的粒度分析仪,激光法测颗粒度,是基于ISO13321标准分析颗粒粒度的一种方法,即利用运动着的颗粒所产生的动态 的散射光,通过光子相关光谱分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析纳米颗粒粒度,其特点是快速、准确、分辨率高。
· 是同类产品中**采用六个角度(在0-900C角度范围)检测的仪器
· 独有的指纹分析给出六角度的Unimodal分析图,快速判别样品类型
 
 
技术参数
  • 测量范围: 1-5,000nm
  • 测量时间:30-180
  • 重现性: 优于3%CV
  • 粒度分布:可区别平均粒度比大于2.5的两个峰
  • 精度: 2-5%
  • 样品温控范围:0-90℃±0.1 ℃
  • 数据输出:平均粒度、粒度分布、扩散系数及平均分子量
  • 激光源:10mW He-Ne激光器,波长632.8nm
  • 探测器:六角度探测器

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