JMK-250P影像测量仪 JMK-250P
产品简介
性能特点: 有点,线,圆,两点距离, 角度等基本量测功能,有坐标平移和坐标转换功能; OVM Lite影像量测软件; 可以摄取被测物体的图像; Z轴具有光学尺,可以量测高度; 接激光指示器,**指示当前量测位置; LED冷光源(底光和表面光)手动可调; 花岗石底座和立柱,稳定性强,硬度高,不易变形; 接脚踏开关,打点操作方便; 手动操作,可以切换快速移动; 测
产品详细信息
性能特点:
- 有点,线,圆,两点距离, 角度等基本量测功能,有坐标平移和坐标转换功能;
- OVM Lite影像量测软件;
- 可以摄取被测物体的图像;
- Z轴具有光学尺,可以量测高度;
- 接激光指示器,**指示当前量测位置;
- LED冷光源(底光和表面光)手动可调;
- 花岗石底座和立柱,稳定性强,硬度高,不易变形;
- 接脚踏开关,打点操作方便;
- 手动操作,可以切换快速移动;
- 测量数据可以输出到EXCEL,WORD中或将其量测元素的几何图形导入到CAD软件中;
- 可以接高性能接触式探针,做高度测量。
产品配置:
- 量测主机:1套(含台架、光源等);
- 电脑 1套:(高性主机、17"纯平显示器、鼠标/键盘);
- 量测软体:1套(含软体加密锁)。
- 校正片:1块。
规格参数:
- (X/Y/Z轴)量测行程:250*150*200 mm
- 全机尺寸:1000*650*1650 mm
- 机台底座和立柱材料:高精度花岗石
- 光源材质:LED冷光源
- X,Y轴量测精度:(3+L/200)um
- 光学放大率:0.7--4.5X
- 总放大倍率:28--180X(影像放大倍率)
- 光学尺解析度:1 um
- 量测重复性:2 um
- 操作方式:手动
- 显示器:纯平
- CCD:3D Family,41万像素,彩色
- 机台承重:30 Kg