方块电阻测试仪 XY型
产品简介
XY系列方块电阻测试仪,是智能型便携式测量仪器。是针对透明导电薄膜(如ITO玻璃)、电池导电薄膜、导电高分子薄膜、隔热防辐射(透光)导电膜、导电屏蔽膜(层)、金属溅射膜(薄层)、导电布以及半导体材料的方块电阻/电阻率测量而研制。 仪器适用于科研、高校、生产、检验等机构对上述材料的测量。
产品详细信息
方块电阻测试仪适用测量范围
·透明导电膜(ITO玻璃)
·电池导电薄膜
·导电高分子薄膜
·隔热、防辐射导电膜
·导电(屏蔽)布
·各类半导体材料
主要技术参数
·测量范围:000.00~20000Ω/□(或Ω.cm),量程自动调整;
·测量误差:≤±2%+3(满量程);
·测量时间:< 2s每次;
·开机时间:< 4s每次开机初始化时间;
·探笔规格:直线排列四点探针,间距1mm;
·电源规格:交/直流转换12V稳压,或6F22(9V)外形锂电池
·整机重量:< 250g(主机+测量笔);
·外形尺寸:主机:190×90×31(mm);测量笔长:1200(mm)
仪器特点
1.自动检测和显示电源电压“过高”和“过低”,这时停止任何测量;
2.自动区分显示“外部电源”和“电池”供电。采用外部电源时,自动对内置锂电池进行检测、充电和补充充电,并可同时使用测量;
3.自动检测测量笔是否与测量样品接触,并显示是否“完好”;
4.自动在测量笔与测量样品接触“完好”后,对样品输出电流(电压);
5.自动检测测量是否超量程,是则转换量程再次测量;
6.自动提示测量是否有效。
·透明导电膜(ITO玻璃)
·电池导电薄膜
·导电高分子薄膜
·隔热、防辐射导电膜
·导电(屏蔽)布
·各类半导体材料
主要技术参数
·测量范围:000.00~20000Ω/□(或Ω.cm),量程自动调整;
·测量误差:≤±2%+3(满量程);
·测量时间:< 2s每次;
·开机时间:< 4s每次开机初始化时间;
·探笔规格:直线排列四点探针,间距1mm;
·电源规格:交/直流转换12V稳压,或6F22(9V)外形锂电池
·整机重量:< 250g(主机+测量笔);
·外形尺寸:主机:190×90×31(mm);测量笔长:1200(mm)
仪器特点
1.自动检测和显示电源电压“过高”和“过低”,这时停止任何测量;
2.自动区分显示“外部电源”和“电池”供电。采用外部电源时,自动对内置锂电池进行检测、充电和补充充电,并可同时使用测量;
3.自动检测测量笔是否与测量样品接触,并显示是否“完好”;
4.自动在测量笔与测量样品接触“完好”后,对样品输出电流(电压);
5.自动检测测量是否超量程,是则转换量程再次测量;
6.自动提示测量是否有效。