德国Werth 低接触力测头 德国Werth Force Probe LFP
产品简介
德国Werth 低接触力测头,Werth测量机可以集成传感器:接触式单点、接触式扫描、低接触力测头、激光线扫描、快速激光、WERTH光纤侧头,WERTH光学测头、普通光学测头、可见光干涉测头、接触式和激光复合的粗糙度测头,WERTH CT测头等十多种。
产品详细信息
德国Werth 低接触力测头
Werth Low Force Probe LFP:
应用优点
◆ 适合于橡胶件,塑料件,薄壁件和其它灵活材料零件的测量
◆ 由于LFP的接触力非常之小,可以省去复杂的工件装卡
◆ 由于LFP的接触力非常之小,测量杆可以做到非常长(40毫米)或者非常短(0.3到1.6毫米),测量头的直径也可以做得非常小
◆ LFP的构造(没有可移动件,非磁性的材料)使其可以测量带有磁性的工件
◆ **地集成到Werth多传感器测量概念中
◆ 超高精度的5向接触的测头
◆ 安装选项
-在PH6或者PH1头部的M8螺纹上安装
-通过在PH10M上的自动连接器PAA1,连接头SP25/SP600或者MIH
*) *大的可靠的接触测量偏差;使用Werth 标准体,根据ISO 10360和VDI 2617
技术数据:
◆ 接触力小于0.0001牛顿
◆ 测量方向 +/-X, +/-Y, +Z
◆ 接触精度 MPE*
(测量头连接杆的长度40毫米,测量头的直径为1毫米):
◆ 单点测量:
P1: 0.75 μm
P2: 1.5 μm
P3: 4.5 μm
技术数据:
◆ 接触力小于0.0001牛顿
◆ 测量方向 +/-X, +/-Y, +Z
◆ 接触精度 MPE*
(测量头连接杆的长度40毫米,测量头的直径为1毫米):
◆ 单点测量:
P1: 0.75 μm
P2: 1.5 μm
P3: 4.5 μm