TOFD检测仪 BSN860
产品简介
TOFD检测仪
产品详细信息
TOFD定义及原理
Time Of Flight Diffraction(TOFD)超声波衍射时差法,是一种依靠从待检试件内部结构(主要是指缺陷)的“端角”和“端点”处得到的衍射能量来检测缺陷的方法,用于缺陷的检测、定量和定位。
TOFD是使用两个探头一发一收模式的检测技术。
TOFD检测和记录从缺陷端部衍射的信号,用于缺陷定性及其尺寸定量。
TOFD数据在B扫描里为灰度显示。
TOFD可提供大范围覆盖和与波幅无关的尺寸测量。
全体积的单线扫查
与焊缝结构无关的设置
对各种缺陷非常敏感,但对缺陷方向灵敏度较小
TOFD扫查装置及TOFD图像
发射器 |
|
PRF |
25~10KHz |
电压 |
负方波,-25~-300V 步进 25V |
宽度 |
30~1000ns,5ns 步进 |
触发 |
自触发、外触发、编码器触发 |
接收器 |
|
水平线性 |
≤0.4% |
垂直线性 |
≤3% |
灵敏度余量 |
56dB(用2.5P20 探头测试) |
阻尼 |
40Ω、80Ω |
采样率 |
100M |
带宽 |
0.5~20MHz |
增益 |
0.0~110.0dB |
滤波器 |
窄带、宽带 |
检波 |
正向、负向、全波、射频、频谱 |
通道间串扰 |
>60dB |
*大输入信号 |
14VPP |
检测范围 |
0.0~10000mm ( 钢纵波) ,连续可调,*小步进值0.1mm |
显示延迟 |
0~999.9μs |
显示移位 |
-7.5~3000μs |
信号处理 |
|
测量闸门 |
A、B |
闸门起点 |
全范围 |
闸门宽度 |
闸门起点到全范围 |
闸门高度 |
5~95% |
测量模式 |
前沿、峰值 |
显示读数 |
闸门内读数幅度及声程 |
测量分辨率 |
0.1mm |
系统/其他 |
|
功耗 |
15W,依配置不同而异 |
数据传输 |
1000M 以太网 |
网络接口 |
100M/1000M 以太网接口 |
产品配置
项目 |
产品名称 |
产品型号及描述 |
数量 |
单位 |
1 |
主机 |
4通道TOFD检测设备主机 |
1 |
个 |
2 |
探头 |
5M9.5mm晶片探头 |
2 |
个 |
3 |
探头 |
10MHz,6mm/3mm晶片探头 |
2 |
个 |
4 |
楔块 |
适用于3mm,6mm晶片探头,70度楔块 |
5 |
个 |
5 |
楔块 |
适用于3mm,6mm晶片探头,60度楔块 |
5 |
个 |
6 |
楔块 |
适用于9.5mm,12mm晶片探头,60度楔块 |
10 |
个 |
7 |
探头线 |
3m探头线 |
10 |
个 |
8 |
探头线 |
5m探头线 |
12 |
个 |
9 |
扫查器 |
2通道 国产 可弯曲 |
3 |
套 |
10 |
扫查器轮子 |
易损件 |
3 |
个 |
11 |
编码器 |
易损件 |
2 |
个 |
12 |
电池 |
电池 |
1 |
个 |
13 |
试块 |
超声检测模拟试块 |
3 |
块 |
根据板厚选型
型号 |
通道数量 |
适合板厚 |
BSN-T1 |
1 |
6-50 |
BSN-T2 |
2 |
50-100 |
BSN-T3 |
3 |
100-200 |
BSN-T4 |
4 |
200-300 |
TOFD超声主机技术参数
发射器 |
|
PRF |
25~10KHz |
电压 |
负方波,-25~-300V 步进 25V |
宽度 |
30~1000ns,5ns 步进 |
触发 |
自触发、外触发、编码器触发 |
接收器 |
|
水平线性 |
≤0.4% |
垂直线性 |
≤3% |
灵敏度余量 |
56dB(用2.5P20 探头测试) |
阻尼 |
40Ω、80Ω |
采样率 |
100M |
带宽 |
0.5~20MHz |
增益 |
0.0~110.0dB |
滤波器 |
窄带、宽带 |
检波 |
正向、负向、全波、射频、频谱 |
通道间串扰 |
>60dB |
*大输入信号 |
14VPP |
检测范围 |
0.0~10000mm ( 钢纵波) ,连续可调,*小步进值0.1mm |
显示延迟 |
0~999.9μs |
显示移位 |
-7.5~3000μs |
信号处理 |
|
测量闸门 |
A、B |
闸门起点 |
全范围 |
闸门宽度 |
闸门起点到全范围 |
闸门高度 |
5~95% |
测量模式 |
前沿、峰值 |
显示读数 |
闸门内读数幅度及声程 |
测量分辨率 |
0.1mm |
系统/其他 |
|
功耗 |
15W,依配置不同而异 |
数据传输 |
1000M 以太网 |
网络接口 |
100M/1000M 以太网接口 |