数位IC测试仪 GUT-6000A
产品简介
数位IC测试仪特性:Loop 测试自动搜寻 IC 编号功能开机自我侦测诊断功能过载保护功能可量测之 IC 种类超过 1800 种54/74 系列 TTL 及高速 CMOS4000 及 4500 系列 CMOS*大可测 Pin 数 : 28 Pin
产品详细信息
数位IC测试仪特性:
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
*大可测 Pin 数 : 28 Pin
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
*大可测 Pin 数 : 28 Pin
数位IC测试仪规 格 | |
测试范围 | 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
55 及 75 系列 TTL | |
量测种类 | 约 1800 种 |
测试电压 | 5V DC |
测试时间 | 高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC |
使用电源 | 交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
附件 | 电源线 x 1, 操作手册 x 1 |
尺寸及重量 | 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤 |
固纬IC测试仪选型表
机 种 | 主要功能或用途 |
GUT - 6000A | 数位IC测试器 |
GUT - 6600 | 掌上型数位IC测试器 |
GUT - 6001 | 类比IC测试器 |