电容保护层膜厚度测量仪0.1μm CHY-U

CHY-U   电容保护层膜厚度测量仪0.1μm适用于2mm范围内各种硬质和软质材料厚度**测量。

电容保护层膜厚度测量仪测试原理
机械接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测量头自动降落于试样之上，在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。

电容保护层膜厚度测量仪技术参数
测量范围：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率：0.1um
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种
机器尺寸：450mm×340mm×390mm (长宽高)
重量：23Kg

电容保护层膜厚度测量仪标    准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

详情致电：陈美如         0531-6781 3036          156 6677 5359