四探针电阻率测试仪 HT

四探针电阻率测试仪

       由于金属快体材料的电阻率和金属薄膜的电阻很低，他们的测量一般采用四端接线法进行测量，为了满足实际的要求，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻率的测量。
      四探针金属/半导体电阻率测量仪是北京科技大学应用科学学院物理系教师将科研仪器向教学仪器转化的成果，并在国内**被应用于大学工科物理实验教学。
      本实验仪器装置适用于物理实验教学和科研开发。特别是在物理实验教学上，用其编排的实验内容丰富、适用面广、扩展性强。
       本仪器装置和实验内容已通过国家工科基础课程教学基地鉴定。
主要用途：
   半导体、导电高分子薄膜（块体）材料电阻率的测量
   金属薄膜材料电阻率的测量
   金属块体材料电阻率的测量

仪器组成及性能：

    精密直流电流源电压表：
        电压输出范围：5µV-50V，负载电流*大为10mA
        量程：分五档20mV、200mV、2V、20V、50V，带有粗调和细调
        输出电压显示：4½位LED
        输出电压的基本误差：±（0.1%RD+0.02%FS）

        电流输出范围：1nA-50mA，*高输出电压为5V
        量程：分五档，20µA、200µA、2mA、20mA、50mA，带有粗调和细调（可扩展至200mA）
        输出电流指标：4½位LED
        输出电流的基本误差：±（0.03%RD+0.02%FS）

   高精度直流数字电压表：
       电压测量范围：0.1µV—1000V直流电压
       测量电压显示：6½位LED
       接口：RS232C接口
  
  四探针平台及组件
       由底盘，样品平台以及在样品平台上安置的四探针组成。四探针组件是由具有引线的四根探针组成。四根探针被固定在一个架子上，相邻两探针的间距为3毫米，探针针尖的直径约为200微米。