贵金属检测仪 EXF7800

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产品型号:EXF7800
 牌:西凡
公司名称:深圳市西凡科技有限公司(商务部)
  地:广东深圳
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产品简介

符合*严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式。探头指标高,性能好,寿命长;全新32位软硬件系统,工作可靠,效率高;配备高清晰的摄像定位系统,测量更直观、方便、快捷。配置固定样品用多轴向夹具。 
EXF7800在EXF7200的平台上集成工业级计算机,升级了显示屏幕和电路结构,无需再外接电脑;造型时尚专业,带多节点预启动装置和实时监控系统;带门锁电锁,使得日常管理更便捷;加装自

产品详细信息

                                                                                              贵金属检测仪
激发源:Mo靶的X光管 风冷 (无辐射)
联系人:  金先生 
测量点尺寸:1~2mm
样品室: 长400 mm×宽: 300mm×高: 0~90 mm样品放大成像系统
软件:菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算
计算机:选择配置
检测器:固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路
其它规格:
    电压:100~127或200~240V,50/60 Hz
    *大功率:120W
    *大处尺寸:500mm*500mm*400mm
    重量:48kg
技术指标
    分析范围:1%~99.99%
    测量时间:自适应
    测量精度: ± 0.1%
    测试环境:常温常态
    分析元素:Au 、Ag 、Pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd﹑W
    X射线源:X射线光管
    高压器:4~50Kv
    分析:多通道模拟
    操作系统:Windows2000/Me/XP
镀层测量:
    镀层厚度范围<30μm
    可测量元素种类:Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd
    *大测量层数:5层
测量精度:0.03μm

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