超高真空分析系统(高分辨电子能量损失谱/低能量电子衍射/俄歇)
高分辩电子能量损失谱仪: 超高分辨率:0.5 meV FWHM 保证传感器电流不小于10pA at 1.0 meV resolution (FWHM) 使用new electrostatics deflectors with controlled angular aberrations* 低噪音数字式控制电子,由菜单驱动软件控制 用户自己选择能量扫描范围(*大到 50 eV) for vibronic/electronic applications
Reverse View LEED / Auger Reverse View LEED是世界上*早的商业化LEED装置。经过十余年的生产研发经验的积累,Reverse View LEED已经发展成为具有**的性能、**的稳定性和丰富的软件的LEED装置,而且衍生出了一系列其它LEED型号。 ● 电子束能量范围0 ~ 3500 eV ● 可视角度达102度 ● 可选配AES (Auger electron spectroscopy) 功能,能量分辨率好于0.5% FWHM ( Combination LEED and Auger control electronics with integral lock-in amplifier) ● 可选Video LEED对LEED图形进行采集和分析,以及I(V)、I(t)分析 ● 可选W-Th灯丝或LaB6灯丝 MCP-LEED (Micro-channel plate control electronics) MCP-LEED采用了高灵敏度的多通道板设计,专门用于要求极低的一次电子束流的分析中,例如敏感材料、绝缘体等。 ● 极低的一次电子束流,0.1 ~ 30 nA ● *多两级多通道板 ● 可视角度达70度 ● 极低的噪声水平和极高的稳定性
•温度控制器:基底加热 •LN2 or CW 冷却系统 •离子泵+钛升华泵:超高真空 •机械泵+分子涡沦泵 •带自动样品递送的Loadlock样品加载系统
全球专业的高真空表面分析设备制造商,为各个领域的客户提供完善的薄膜分析解决方案.
相关设备: 1.高分辨电子能量损失谱系统(HREELS); 2.低能量电子衍射系统(LEED); 3.电子能量分析器(CMA); 4.俄歇谱系统;(Auger)