上市时间：2008年10月

**点

X-Max大面积能谱探测系统的**点：
1.显著提高了能谱分析的工作效率，比市场同类产品或本公司上一代产品相比工作效率高达10倍；
2.显著提高了能谱分析的空间分辨率，*低可达30nm，使能谱分析真正迈入了纳米领域；市场上同类产品的*低分辨率达100nm以上；
3.更优异的分析性能，包括低能分析性能和能量分辨率；比上一代产品有明显提高。上一代产品的典型能量分辨率为129eV，而X-Max为125eV；
4.**的电子陷阱设计，消除了探头对电镜的影响；上一代产品无此设计；
5.**的真空设计，任何故障保证在8小时内恢复正常。市场上任何同类产品都无法做到。
6.拥有超大面积的探测晶体（*大为80平方毫米），比上一代产品有明显提高（10平方毫米），市场上同类产品*大为40平方毫米。

技术参数

主要特点

大面积SDD能谱技术，更优异的分析性能；
更好的分辨率，80mm²的探头也能达到123eV（MnKa)；
20mm², 50mm², 80mm²可选，更高的计数率，更高的工作效率；
低束流下的高计数率，冷场扫描电镜的理想选择；
高计数率下的高效率，与EBSD集成的*佳配合；
简单高效的现场维护，保证您的系统8小时恢复正常，包括窗口破裂；
**的INCA导航界面，丰富强大的分析功能；
专业的售后服务，无任何后顾之忧！

仪器介绍

详情请见：
www.oichina.cn (中文网站）
www.x-raymicroanalysis.com（X射线显微分析网站）
www.EBSD.com （电子背散射衍射技术网站）
www.oxford-instruments.com （英文网站）
www.hkltechnology.com（电子背散射衍射技术网站）
ebsd-cs@oichina.cn （电子背散射衍射仪在线支持）

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分析方法

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