XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 X-Strata980

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产品型号:X-Strata980
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公司名称:牛津仪器(上海)有限公司
  地:上海嘉定
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产品简介

XRF痕量元素分析及镀层测厚仪

产品详细信息

技术参数

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主要特点

X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可**到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择*合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。
-25平方毫米PIN探测器
-100瓦X射线管
-多准直器配置
-扫描分析及元素分布成像功能
-灵活运用多种分析模型
-清晰显示样品合格/不合格
-超大样品舱
-同时分析元素含量和镀层厚度

仪器介绍

运用X 荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量。应用于:
-有害元素痕量分析
-焊料合金成分分析和镀层厚度测量
-电子产品中金和钯镀层的厚度测量
-五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
-贵金属合金分析和牌号鉴定

分析方法

此仪器尚未上传分析方法

相关资料

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1.欧盟RoHS与中国RoHS之比较
2.如何根据具体选用选择X荧光设备进行RoHS分析

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