Fischerscope®X-Ray XAN-DPP X射线荧光光谱仪 Fischerscope®X-Ray XAN XUL XDL XDAL XULM

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产品型号：Fischerscope®X-Ray XAN XUL XDL XDAL XULM

品牌：其它品牌

公司名称：厦门亿辰科技有限公司

所在地：北京通州

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产品简介

XAN-DDP X-射线光谱分析是透过次级辐射所产生的不同能量特性来辨认元素；其原理是由X-射线管产生初级X-射线荧光照射在受检物质表面上时，元素的电子层内的电子将被激发，而因为能量的原因；一连串的电子补充到被激发的电子“空档”。由于能量的改变，特定的元素便会产生特定的辐射，再用半导体或其他合适的比例接收器来收集辐射讯号，从能量及强度的大小进行分析便可以识别元素及进行定量分析了。

产品详细信息

Fischerscope®X-Ray XAN-DPP X射线荧光光谱仪

一、仪器介绍：

X-射线荧光方法：

XAN-DDP X-射线光谱分析是透过次级辐射所产生的不同能量特性来辨认元素；其原理是由X-射线管产生初级X-射线荧光照射在受检物质表面上时，元素的电子层内的电子将被激发，而因为能量的原因；一连串的电子补充到被激发的电子“空档”。由于能量的改变，特定的元素便会产生特定的辐射，再用半导体或其他合适的比例接收器来收集辐射讯号，从能量及强度的大小进行分析便可以识别元素及进行定量分析了。

二、应用：

现今可测量的元素已经不再局限于某范围，可以由铝（Aluminum）到铀（Uranium）;所以FISCHERSCOPE® X-RAY XAN-DDP籍此方法将工业应用伸展到科学应用。不论应用于冶金学、地质学、监证学或自然科学。FISCHERSCOPE® X-RAY XAN-DDP是一个功能强劲及低成本的光谱计，*适合用在这些方面上。针对欧盟*新颁布的ROHS法令和WEEE法令，即对5种有害物质Cr+6,Hg,Pb,Br和Cd的含量严格控制，前4种不能超过1000ppm,Cd不超过100ppm的要求，采用FISCHER WinFTMV6.14软件，在仪器上就可以完成测试。并且操作简便，测试时间短，不需要任何额外辅助配合，员工不必专业人才，使用方法与FISCHER测厚仪基本相同。FISCHERSCOPE® X-RAY XAN-DDP亦能准确地分析已知的基材上的复杂镀层含量结果；就算较大的样本都可轻易放入测量槽内

三、功能特点：

Ø 用于镀层厚度测量和材料分析的X-射线荧光测量系统

Ø X-射线由下往上；高能量解像度半导体接收器

Ø 数字脉冲处理器；高清晰度彩色摄像头

Ø X射线管可设定10，30或50KV的高压

Ø 四个直径为0.2，0.6，1和2mm圆形准值器

Ø 镀层厚度及元素组成测量;*多可分析24种不同元素; *多可测量24种不同的镀层元素

Ø 计算机系统: 预装Windows系统

Ø 17寸高清晰度液晶显示器

Ø 14寸纯元素片(Ag,Cu,Fe,Ni,Ze,Zr,Mo,S,Ti,Sn,W,Au,Pb,Cr)

四、技术规格表：

X-RAY型号/订货号	XANÒ-DPP 603-862
测量头图片;	初级X-射线测量方向 ( ¯ )
典型特征	超快数字脉冲处理器；测量台固定
测量头外部尺寸	宽 380 mm深576 mm高340 mm
测量箱有效内部尺寸	包含测量门斜面部分的尺寸：宽 = 318 mm; 深 = 307 mm; 高 = 29 至 86 mm 仅包含完整高度部分的尺寸(高：86 mm)：宽 = 318 mm; 深 = 203 mm; 高 = 86 mm
测量头设计	完全关闭，向上开启，金属测量门
测量头重量	约 42 kg
测量台设计	透明及可更换薄膜的嵌入式固定式支撑台，用于X-射线光束的自由通过和测量点的查看
测量台载入和工件定位	工件直接放置在支撑台上通过影像手动定位
测量头按键	2 个按键：Start，stop
测量台*大工件重量	2 kg
测量点的影像控制	高分辨率的彩色摄像头，的光学路径设计使得具有独特的测量点垂直查看； WinFTM®主窗口的画中画查看功能；实际测量点的影像尺寸（不是视准器的尺寸）带有与实际尺寸相一致的十字线刻度和测量点尺寸指示，这样就可以定位，在任何测量距离下测量点和测量位置都可以获得与实际尺寸相一致的影像显示。通过影像屏幕上的控制条可以进行亮度控制
图像放大倍率	光学：20x至45x；附加数字放大倍率1x, 2x, 3x 4x；数据传输至17”TFT-显示器
测量点聚焦	转动把手进行光学聚焦
测量距离修正方法	**的DCM-方法 (Distance Controlled Measurement距离控制测量) 允许工件表面凹陷处的测量，该方法适用于整个Md-范围(参见“测量距离”/有效聚焦范围”)。测量值根据测试点聚焦后的测量距离Md 进行数学修正。
可用聚焦范围测量距离 Md	测量距离 Md (校准过的范围)： 0 mm ≤ Md ≤ 22 mm 测量距离 Md (未校准过的范围)：22 mm ≤ Md ≤ 25 mm
X-射线高压	可调节至*应用：10 kV; 30 kV; 50 kV. 可靠的高压发生器：连续测量时，高压发生器严格控制电压和X-射线阳极电流在限制的范围之内以保证高稳定性。由于高超的散热设计，足够的容量空间，即使在连续测量时也可以持续以高性能产生高压。
X-射线管	带铍窗口的微聚焦钨管。可设定的能源节省功能
初级滤波器位置号	1) 镍；2) 空气；3) 铝 (厚)；4) 铝 (薄)；5) 钛；6) 钼
初级滤波器位置号	可以使用一个选定的初级滤波器，由软件控制。初级滤波器的使用使得初级辐射可以调节，这意味着可以达到尽可能小的测量不确定性。初级频谱的变化可以通过高压的设定和初级滤波器的选择来达到。这样的话，可以对任何测量应用设定*适宜的激发条件。
视准器测量点尺寸	可编程的，电机控制的4个视准器尺寸： ø 0.2 mm, ø 0.6 mm, ø 1 mm, ø 2 mm 在 Md= 0 mm时：大约各自比视准器直径大10 % 左右
探测器	Si-PIN-二极管; Peltier-冷却 (约 -30°C). 无须液氮冷却
能量分辨率(Mn-Kα)	180 eV [ FWHM ] “Full Wave at Half Maximum”
脉冲处理器	超快数字式脉冲处理器
*大脉冲率[imp./秒]	约100,000;该数据表示了处理器可以处理的作为信号输入的*大脉冲率 (计数率)
控制计算机	个人电脑 FMC-XPENT：Intel 奔腾或类似处理器，帧捕捉板，硬盘，CD-ROM，3 1/2"软驱，Windows键盘XK，可选：条形码阅读器（订货号603-678）
操作系统	标准： Windows® XP 专业版；（可选: Windows® 2000）
软件	标准: WinFTM® V.6 BASIC + PDM 可选: WinFTM® V.6 BASIC + PDM + SUPER 参见WinFTM® V.6技术规格表以了解完整的软件特性 (订货号952-049)。
显示器	标准: 17"纯平 TFT显示器可选: 19"纯平TFT显示器(订货号603-798).都可用于画中画工件查看和数据显示
打印机	可选: EPSON 彩色喷墨打印机 (订货号 602-555)
附件	纯元素标准块，工具，连接电缆和其它小的附件
电源	115 – 230V；50 – 60Hz
电源功率	*大 120 W (仅指测量头，不带电脑主机和显示器)
用途	镀层厚度测量和材料分析
测量方法	采用ASTM B 568, DIN EN ISO3497和DIN50987标准的能量分散X射线荧光法（ED-XRF）
元素范围	铝 (Z=13) to 铀 (Z=92)
X-射线**性	全防护型仪器，设计符合德国 X-射线法规§4Abs. 3, Anlage 2.3 RöV；无须用户配备专门的辐射**人员。
仪器的服务	HELMUT FISCHER拥有全球服务网络
应用服务	解答应用问题，Def.MA数据创建，例如：用户特殊应用的参数设定等
X-射线培训	一年几次的培训及研讨会，传递关于X-射线荧光方法和X-射线仪器实际应用的信息