XP/XS超微量、微量天平、精密天平、分析天平、电子天平 UMX/MX/XP/XS
产品简介
XP/XS超微量、微量天平、精密天平、分析天平、电子天平
产品详细信息
技术参数
型号 / *大称量值 / 可读性
XP2U(新品)/2.1 g/0.1 µg
XP26 / 22 g / 0.001 mg
XP56 / 52 g / 0.001 mg
XP2U超微量天平
*大称量值 2.1 g
可读性 0.1 µg
主要特点
1.SmartSens红外感应系统可自动开关防风门、去皮与打印
2.背光触摸显示屏与8种个人操作设定使操作更加简捷与个性化
3.e-Loader软件使天平可连接互联网下载升级应用软件,令它永远处于新技术*前沿
4.五千万分之一分辨率与ProFACT全自动校准并对结果线性化功能塑造**称量**性
5.MinWeigh*小称量值带来全新称量理念
仪器介绍
梅特勒-托利多**的微量和超微量天平MX/XP/UMX设立了高效称量、用户友好的操作界面和高质量的新标准。这些微量天平可以提供现有分析天平具有的*高分辨率:高达无可匹敌的52,000,000位。明亮的触摸显示屏、智能化用户操作指导以及无需用手接触的红外防风罩控制功能使得该系列高精度天平称量更快速、操作更简便、更有趣味。
全新XP/XS微量天平(XP2U/XP6/XS3DU)正式在中国上市。同时,UMX2/MX5微量天平也将退出历史舞台。
更多信息,详见:http://www.mt.com
分析方法
1.西班牙计量中心(CEM)应用梅特勒-托利多比较器
2.XP26&XP56质量比较器
相关资料
[下载样本]
1.梅特勒-托利多AX/MX/UMX天平协列介绍三——永远**的理念与技术
2.XP微量天平