工作原理:采用X射线荧光(XRF)技术进行多元素分析
探 测 器:高性能、高分辨率Si-Pin X射线探测器,Peltier效应半导体制冷
硬件系统:日立SH-4 CPU ASICS高速数字信号处理器 4096像元微通道结构
充电电池:电池满充电可连续工作8-12小时
显 示 器:带背光的视频图形阵列(VGA)触摸屏LCD,显示分析时间,合**号,成分百分比含量和分析误差值(2倍sigma误差)
分析范围:从22号元素钛(Ti)到83号元素铋(Bi)中,23个标准合金成分元素。选配充氦装置可以分析Mg,Al, Si, P。非标准元素亦可能分析,需根据具体情况协商确定
工作模式:(1)合**号鉴别与成分分析模式;(2)标识匹配鉴别模式;(3)超级成分分析模式
数据存储:6000个以上的测量数据及其X射线谱图
仪器重量:1.4公斤
仪器尺寸:248×273×95mm(L×H×W)
激 励 源:低功率35kV/1.0W银阳极靶X射线管
工作条件:环境温度-20℃-50℃
**特性:操作密码保护,防止非授权人员使用;仪器断电或故障时,快门自动关闭;快门打开或X射线管工作时,仪器四周LED指示灯闪烁
标准附件:带锁的防水手提箱,携带用仪器保护套,备用充电电池及护套,110v/220v通用充电器,PC机连接电缆,NDT软件,仪器手腕**系索,仪器检查、验证用合金标样,使用手册
分析范围
激 励 源:X射线管
分析元素:Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Zr Nb Mo Ag Pd Sn Hf Ta W Re Pb Bi Se Sb