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光谱椭偏仪 PHE　

光谱椭偏仪 PHE　
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产品价格： < 面议
产品型号：PHE　
品 牌：
公司名称：巨力科技股份有限公司
所 在 地：北京通州
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产品简介

光谱椭偏仪

产品详细信息

  • 技术参数

  • 膜厚范围：0-30000nm
    折射指数：± 0.0001
    厚度准确度：± 0.01nm
    入射角度：20 - 90°
    波长范围：250-1100nm（深紫外、近红外、红外可选）
    Psi=±0.01°，Delta=±0.02°

  • 主要特点

  • 高精度测量；

    变角度功能；

    全光谱测量；

  • 仪器介绍

  • ***高精度光谱椭偏仪！
    可以**测量折射指数、消光系数（n & K)，膜厚等，广泛适用于半导体、电介质、聚合物、金属等材料，单层薄膜和多层膜。**客户包括US Army Research Lab，NASA，NIST，UC Berkeley，MIT，Harvard，Honeywell和Sharp Microelectronics等；

    根据客户需求，可提供不同型号：

    变角度单波长椭偏仪（632.8nm）；

    变角度多波长椭偏仪（532, 632.8, 1064nm, …）；

    变角度光谱椭偏仪（深紫外、紫外-可见-近红外光谱190-2300nm）；

    全自动光谱椭偏仪（深紫外、紫外-可见-近红外光谱190-2300nm）；

    红外光谱椭偏仪等；

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巨力科技股份有限公司
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