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薄膜测厚仪(涂层) ST6000
薄膜测厚仪(涂层) ST6000
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产品价格:
< 面议
产品型号:ST6000
品
牌:
公司名称:苏州安创仪器有限公司
所
在
地:北京通州
浏览次数:
417
次
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产品简介
薄膜测厚仪(涂层)
产品详细信息
技术参数
活动范围 :370mm x 470 mm~
测量范围 :100Å~ 35㎛
光斑尺寸 :40㎛/20㎛, 4㎛(option)
测量速度 :1~2 sec./site (fitting time)
应用领域 :1)聚合体: PVA, PET, PP, PR
2)电解质: SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 ...
3)半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
4)显示 : PR, ITO, SiO2, TiO2, ZrO2, SixNx
主要特点
通讯接口模块传达方式
自动机械活动控制
电荷耦合器件照相机
自动调焦
模式识别
仪器介绍
韩国K-MAC (株) 公司和附属韩国物理性质分析研究所主要开发生产具有高科技含
的理化学分析仪器和应用仪器。仪器的适用范围有半导体,医疗,环境及工程监控等。
公司还通过表面和构造分析服务,提供半导体等精密部件的研究开发所需的必要数据。
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苏州安创仪器有限公司
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测厚仪
涂层测厚仪