X射线荧光元素分析仪
测定元素:原子序数13(Al)~92(U) 样品室大:370mmWx320mmDx155mmH
非破坏、非接触型测量 无需前处理过程 半导体冷却,无需液氮消耗 大面积检测器及近距离检出设计,保证了较高的灵敏度 采用数字波峰分离软件(DPD),可以分离在Si(Li)检测器也难以分离的能谱 样品室大,370mmWx320mmDx155mmH 精度管理型有害物质判定软件
*适合RoHS&ELV应用分析