数字涂层测厚仪 TS3100/TSCT200

  数字涂层测厚仪/覆层膜厚计TS3100/TSCT200测量原理：采用了磁性和涡流两种侧厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。

  数字涂层测厚仪/覆层膜厚计TS3100/TSCT200数据功能： 

具有存贮功能，可存贮500个测量值；

具有删除功能，对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮内德所有数据，以便进行新的测量；

可设置限界，对限界外的测量值能自动报警；

设有五个统计值：平均值、大值、小值、测量次数、标准偏差；

  数字涂层测厚仪/覆层膜厚计TS3100/TSCT200特点概述：

能实时显示电量，操作过程有蜂鸣声提示，并可选择关闭蜂鸣器；

待机时间可调，超过待机时间自动关闭；

屏幕对比度可调；

具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣器声进行错误提示；

具有两种关机模式，手动关机和自动关机；

  数字涂层测厚仪/覆层膜厚计TS3100/TSCT200技术参数： 

  数字涂层测厚仪/覆层膜厚计TS3100/TSCT200分体（传感器与仪器之间通过引线连接）、两用（F型和N 型合一），具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE)和单次测量方式（SINGLE)。

相关测试仪器：超声波探伤仪、铁素体测量仪、色彩色差计。