天星ED400涡流测厚仪 ED400
产品简介
天星ED400涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型，仪器性能显著提高。天星ED400涡流测厚仪主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
产品详细信息
天星ED400涡流测厚仪
| 技术参数 |
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| 测量范围： | 0～500 μm | |
| 测量精度： | 0～50 μm：±1 μm； | |
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50～500 μm：±2% | |
| 分辨率： | 0～50 μm：0.1 μm； | |
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50～500 μm：1 μm； | |
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0～500 μm：1 μm（可选） | |
| 使用温度： | 5～45℃ | |
| 外形尺寸： | 150 mm×80 mm×30 mm |
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| 重量： | 280 g | |
标准配置：仪器主机（含探头），校准基体，校准片，说明书，保修卡，合格证，仪器箱，第三方计量证书（校准片）。
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