OTDR多模光时域反射仪 FTS510-H

点击查看大图

产品价格： < 面议

产品型号：FTS510-H

品牌：纽利德

公司名称：北京纽利德科技有限公司

所在地：北京丰台

浏览次数：1333 次

立即询价在线咨询

腾讯QQ
MSN

产品简介

FTS510-H OTDR多模光时域反射仪*新推出的能够在任何接入网、城域网中进行日常现场测试的单模多模一体化OTDR，将智能光眼、4m衰减盲区，*小4cm的采样分辨率，单模多模一体化OTDR,单模和多模测试**结合，使用单台OTDR光时域反射仪便可满足一键测试，图形化结果显示以及远程链路的测试需求。

产品详细信息

FTS510-H OTDR多模光时域反射仪*新推出的能够在任何接入网、城域网中进行日常现场测试的单模多模一体化OTDR，将智能光眼、4m衰减盲区，*小4cm的采样分辨率，单模多模一体化OTDR,单模和多模测试**结合，使用单台OTDR光时域反射仪便可满足一键测试，图形化结果显示以及远程链路的测试需求。

产品亮点

智能光眼、4米衰减盲区，*小4cm的采样分辨率，单模和多模测试**结合

高分辨率8英寸彩色电容触摸显示屏可以方便在高亮度下操控仪表

可以通过10/100Base-T接口，USB接口进行结果处理

USB接口用户U盘和光纤端面显微镜的连接

OTDR PC软件可以用于OTDR踪迹线的分析，打印等

功能特性

**OTDR测试功能，测量单模光纤上光连接器、光纤接头、熔接点的位置和插入损耗信息，满足整个光纤链路测试维护；

支持1310，1550波长，动态范围38/36dB

支持850，1300波长，动态范围23/28dB。

足够短的盲区（事件盲区1m，衰减盲区4m）和高达256000个采样点，保证FTS510在整个光纤链路上进行**测试；

支持SR-4731.sor文件格式；

带有自动踪迹诊断，一键设置和事件检测的快速测试模式；

双标记线功能用于距离，衰减和熔接损耗测量；

支持PC离线分析软件用于数据的离线分析和打印；

支持VFL红光功能;

可选光功率计和光源测试功能；

可选iOTA智能光链路拓扑分析测试功能；

可选光纤端面显微镜测试功能。

一般特性

用户接口
显示屏	8英寸电容触摸显示屏
操作界面	触摸屏，实体按键操作；中文和英文操作界面，界面操作简单友好
业务接口
USB数据端口	USB接口2个
以太网端口	以太网10/100M Base-T，接口：RJ45（端口）
其他功能
存储空间	64G
EMC	EN55022/CIPSR22, EN61000-3-2, EN55024
电池和供电
电池	充电式和可更换的锂离子电池工作时间：10小时（典型值）充电时间：<4小时（典型值）（25°C）

技术规格

光时域反射仪	FTS510-H
波长	850/1300/1310/1550nm
动态范围(dB)	23/28/38/36dB
脉冲	单模: 5ns, 10ns, 30ns, 100ns, 300ns, 1µs, 2.5µs, 10µs, 20µs 多模: 5ns, 10ns, 30ns, 1µs, 2.5µs
测试距离	单模: 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80, 160,240Km 多模: 1.3, 2.5, 5, 10, 20,40Km
事件盲区	≤1m
衰减盲区	≤4m(单多模)
采样分辨率	0.04 –4m
采样点	256000
反射参数设置	1.30000 – 1.80000
测试距离不确定性	±(0.75+0.005%×距离+采样分辨率)
衰耗分辨率	0.001dB
线性度	±0.05 dB/dB
测量时间	5s-180s，实时
红光源	波长	650 nm
	输出功率	+5 dBm
	输出模式	CW, 1Hz
光功率计（选件）	波长范围	780 to 1800nm
	校准波长	850nm,1300nm,1310nm,1490nm,1550nm,1625nm,1650nm
	测量范围	+10 - -70 dBm
	分辨率	0.01dB
光源（选件）	工作波长	1310/1550 ±20nm
	输出功率	>-7 dBm
	输出模式	CW, ,270Hz,330Hz,1KHz,2kHz
智能光链路拓扑分析功能（选件）	智能组合不同大小的脉宽，一键自动测试得到光纤、分路器、配线光缆、主干光缆等损耗和反射系数。自动判断光网络拓扑结构，以直观的图形方式显示出来。
光纤端面显微镜（选件）	400倍放大光纤端面显微镜，支持FC,SC,LC,ST等各种光纤接口
测试报告	SOR格式测试报告，PDF测试报告以及打印
激光**	IEC 60825-1：2007：CLASS 1 21 CFR 1040.10