镀层测厚仪 Dualscope FMP40
产品简介
新款DUALSCOPE® FMP40镀层测厚仪作为FMP30-40系列的一部分,比标准版仪器具有更广泛的可用性。 这些仪器集成了许多附加的功能,如*多可达100个应用程式及相应的统计学和图形评估。 将容差限输入可校准应用程式后,生产过程可以进行统计地分析。常规模式可以转换到矩阵模式,以便于进行多点相关联的测试。.
产品详细信息
新款DUALSCOPE® FMP40镀层测厚仪作为FMP30-40系列的一部分,比标准版仪器具有更广泛的可用性。
这些仪器集成了许多附加的功能,如*多可达100个应用程式及相应的统计学和图形评估。
将容差限输入可校准应用程式后,生产过程可以进行统计地分析。常规模式可以转换到矩阵模式,以便于进行多点相关联的测试。.
以上介绍的只是其中极小一部分的功能特性。
FMP30-40镀层测厚仪系列特性:(比FMP10-20多出的特性)
• 自动识别基材(FMP40)
• 可储存20000个测量数据
• 可储存100个应用程式
• 可储存4000个数据组
• 数据组带日期和时间标志
• 数据组和所有数据统计值
• 测量数据直方图显示
• 可以输入过程公差极限并计算相应的工艺能力指数Cp和Cpk
• 当超出公差极限是,有声音和视觉警告信号
• 连续测量模式下,测量数据可在上下限范围内模拟显示
• 外部按键触发测量模式,可用于测量小尺寸的圆管内壁
• 可在未知涂层上校准(仅适用于磁感应方法)
• 可使用矩阵测量模式进行大量测量
• 取平均值:仅储存几个测量数据的平均值
• 区域测量:只显示读数,探头提起后才储存并取平均值
• 探头放在工件上可连续测量
• 离奇值控制可自动排除错误的测量值
• 可修改已储存的测量值
• 应用程式连接模式:可共享校准信息
• 通过MP-Name软件可以为应用程式命名
• USB接口可连接打印机
• 使用电池和外界电源