平行平晶 0-25 25-50 50-75 75-100
产品简介
平行平晶：是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差。平行平晶据有高精度的平面性和平行性。 平行平晶：用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。
产品详细信息
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平行平晶
平行平晶：是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差。平行平晶据有高精度的平面性和平行性。
在平晶和待检测物体之间用以簿片垫起，利用两物体之间的空气层对光线的反射后产生的干涉图像进行检测待测物体表面的光滑程度。 平行平晶：用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。
具体规格：
0-25
25-50
50-75
75-100
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