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高精度大量程涂层测厚仪 EC770X

高精度大量程涂层测厚仪 EC770X 高精度大量程涂层测厚仪 EC770X 高精度大量程涂层测厚仪 EC770X
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产品价格： < 面议
产品型号：EC770X
品 牌：宇问
公司名称：深圳市源恒通科技有限公司
所 在 地：广东深圳
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产品简介

高精度大量程涂层测厚仪EC770X双用型测量范围：.0 0~5000um/3000um
测量范围： F3.0 0~3000um N3.0 0~3000um
测量误差：磁感应 ±(2%+1um) 涡流 ±(2%+1um)
分辨率：0um~99.9um (0.1um),100um~999um
(1um), 1000um~3000um (0.01mm)
测量原理：定制探头，磁感应+涡流效应
高精度大量程涂层测厚仪EC770X双用型测量范围：.0 0~5000um/3000um

产品详细信息

高精度大量程涂层测厚仪EC770X双用型测量范围：.0 0~5000um/3000um
测量范围： F3.0 0~3000um N3.0 0~3000um
测量误差：磁感应 ±(2%+1um) 涡流 ±(2%+1um)
分辨率：0um~99.9um (0.1um),100um~999um
(1um), 1000um~3000um (0.01mm)
测量原理：定制探头，磁感应+涡流效应
高精度大量程涂层测厚仪EC770X双用型测量范围：.0 0~5000um/3000um

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深圳市源恒通科技有限公司