纳米粒度分析仪
产品简介
纳米粒度分析仪N4Plus是采用激光法测超细颗粒的粒度分析仪,激光法测颗粒度,是基于ISO13321标准分析颗粒粒度的一种方法,即利用运动着的颗粒所产生的动态 的散射光,通过光子相关光谱分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析纳米颗粒粒度,其特点是快速、准确、分辨率高。纳米粒度分析仪
产品详细信息
纳米粒度分析仪纳米粒度分析仪,激光粒度分析仪,粒度分析仪 技术参数 1.测量范围: 3-3,000nm 2.测量时间:30-180秒 3.重现性: 优于3%CV 4.可区别平均粒度比大于2.5的两个峰 5.精度: 2-5% 主要特点 1.是同类产品中**采用六个角度(在0-900C角度范围)检测的仪器 2.独有的指纹分析给出六角度的Unimodal分析图,快速判别样品类型 |