LED寿命测试系统 无
产品简介
LED寿命测试系统可用于大批量LED测试,NIST溯源的校准数据。
产品详细信息
LED寿命测试系统
l 服务于大批量LED测试
l 服务于大批量LED测试
l 人机工学设计的工作平台便于操作者监控测试过程
l 背照式CCD光谱仪具有极高灵敏度
l 单次测量中保证光学和电学测试同时进行
l 快速、准确,全软件控制
l NIST溯源的校准数据
l 测量参数包括辐射通量、光通量、峰值波长、质心波长、主波长、半峰值带宽、CIE光谱纯度、CIE色度、正向电压、正向电流、反向漏电流等