X射线探测器 HR-25-X-Ray
产品简介
采用光纤锥耦合X射线探测器，提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单
产品详细信息
高耦合效率，降低设备X光源的投入
影像不失真，让系统软件变得更简单
采用光纤锥耦合的X射线探测器，提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单。
此相机广泛的应用于工业无损检测，如铸件和焊接检测、PCB板检测、工业CT等。
BGA检查 IC焊脚检查 二极管质量检查 金线检查
产品规格：
标准产品有以下三个型号，根据X光源不同，要求分辨率以及目标物的厚度不同，有可能需要改变荧光屏材料和厚度。我们向您提供**的解决方案。
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产品型号
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HR-25-X-Ray
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HR-40-X-Ray
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HR-75-X-Ray
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CCD芯片
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2/3’’芯片，752*582
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2/3’’芯片，1392*1040
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1.2’’芯片，2048*2048
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像素尺寸
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11.6um*11.2um
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6.45um*6.45um
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7.4um*7.4um
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输出格式
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标准CCIR模拟型号输出
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8bit或12bit数字信号输出
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8bit或12bit数字信号输出
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帧速
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视频速度
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17帧或30帧
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15帧
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计算机接口
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无
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1394或以太网接口
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以太网接口
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视场
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20mm*15mm（其它可选）
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32mm*24mm（其它可选）
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45um*45um
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荧光屏镀膜
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P43(其它可选)
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P43(其它可选)
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P43(其它可选)
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X光响应范围
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20kev-100kev
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20kev-100kev
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20kev-100kev
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入射光窗
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0.5mm厚铝膜（其它可选）
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0.5mm厚铝膜（其它可选）
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0.5mm厚铝膜（其它可选）
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分辨率
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50um
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≤50um，10lp/mm
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≤50um,11 lp/mm
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HR-75-X-Ray
400万像素高分辨率；选用75:25的光纤锥耦合，视野可达到45mm X 45mm.
HR-40-X-Ray
140万像素高分辨率；选用40:11的光纤锥耦合，视野可达到32mm X 24mm.
HR-25-X-Ray
体积小巧，直径仅55mm,长68mm,易于安装；分辨率高；动态范围好。
量子效率曲线图
（P43荧光屏（25mg/cm2）, 厚度：55um）
定制产品：
我们可根据客户的需求定制X-Ray相机
- 荧光屏类型和厚度
- 附加层（如Alu,ITO）
- 输入窗口类型和厚度
- 相机电子部分（如计算机接口）
- 制冷（针对于部分型号）
- 真空接口
- 视野大小
- 空间分辨率
应用领域
医学成像设备：
- 牙科X光成像
- 眼科成像
- X射线断层成像
- 局部骨骼成像
工业检测设备：
- PCB或BGA 检查
- 半导体缺陷检查
- 食品**检查
- X光光斑成像
- 无损探伤
- 电线检查
安防设备：
- 紫外线导弹预警
- 距离选通激光雷达
- 夜视相机
- 爆炸物探测
- 指纹获取
- 火灾探测
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