铁基统计型**度膜厚仪 Surfix N

Surfix N铁基统计型**度膜厚仪带统计数据功能，测量厚度可达到1500μm.精度±1μm+1%,分辨率0.1μm,红外可接PC及打印机。珠海天创仪器有限公司授权销售德国菲尼克斯全系列膜厚仪。

Surfix N铁基统计型**度膜厚仪

数据统计(*限统计型)   读数个数(*多9999个)，平均值，标准偏差，*大值和*小值
 
数据存储(*限统计型)   *多200个测量数值,可单独调出
 
数据值(*限统计型)     上下限可调,声音报警

测量范围             0-1500µm,0 - 60mils
 
误差                 ±(1µm+1%读数）
 
分辨率               0.1µm或小于读数的2%
 
显示                 背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示
 
基体*小面积         5mmX5mm
 
基体*小曲率         凸面：1.5mm 凹面：5mm
 
基体*小厚度         F型：0.2mm ,N型： 50µm
 
校准                 厂家校准，零校准，校准箔校准
 
数据接口             红外通讯,IrDA标准
 
环境温度/表面温度    0-50℃/60℃ （可选配150℃）
 
电源                 两节1.5伏五号碱性电池
 
仪器尺寸             137x66x23mm
 
符合标准             DIN，ISO，ASTM，BS

特点：
1.德国PHYNIX公司制造
2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
3.同屏显示统计数据
4.可存储前200测值
5.可测有色金属涂镀层
6.基体上涂层,量程1500μm
7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
8.有红外可接PC及打印机