X射线荧光光谱仪 YTB-A039
产品简介
高分辨率探测器:美国原装电制冷Si-PIN探测器,配套原装数字式多道脉冲幅度分析器,检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法(模拟)多道分析器精准和快速。
产品详细信息
YTB-A039 X射线荧光光谱仪
产品特点:
高分辨率探测器:美国原装电制冷Si-PIN探测器,配套原装数字式多道脉冲幅度分析器,检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法(模拟)多道分析器精准和快速。
精密稳定的高压电源:采用工业级专用X射线荧光分析的精密高压电源,为X射线光管提供长时间的稳定高压。
低功率X射线光管:采用W/Rh靶X射线管,静音高速风扇制冷,设计寿命5万小时。
高像素摄像头:内置高清摄像头以及微动样品移动装置,方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。
全方位的X射线防护体系:采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等**装置全方位防止X射线的泄漏,确保操作人员的**。
超**样品腔:精密科学计算仪器外壳厚度,选择重量与***佳平衡点,既保证仪器使用的**,也有效减轻仪器重量。
采用新型滤光片:有效的降低X射线荧光本底,提高检测灵敏度。独特光学准直器,光束*小直径达0.025mm,集中X射线光束,增强荧光强度,提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。
先进的光谱分析方法:紧跟国际*前沿的X射线光谱分析方法,科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了先进复杂的计算、校正算法,*大程度上减少了定量分析需要的标样,这在同行中处于**地位。通过改进硬件,Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。
无标样分析:真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析,高含量元素相对误差范围可控制在1%以内;对于镀层分析,厚度相对误差范围可控制在10%以内。
**镀层厚度分析:选用专用的功能模块实现对镀层厚度的分析,使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。
技术指标 | 基本参数 | ||
探 测 器 | 145eV FWHM @ 5.9keV | 外型尺寸 | 650 X 520 X 475 mm |
稳 定 度 | 小于 0.05% | 样品腔 | 18 X 490 X 320 mm |
测量对象 | 固体、液体、粉末 | 输入电压 | AC 220V /50HZ |
测量时间 | 60-300s | 功 耗 | 260W |
元素范围 | 硫(S)-铀(U) | 重 量 | 48Kg |
检测下限 | 2ppm | 工作温度 | 20-30℃ |
含量范围 | 2ppm-99.99% | 工作湿度 | 40-70% |
X光管压 | 1-50KV | ||
X光管流 | 1-1000 A | ||
**测镀层 | 0-40 m |